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第一章 X射线物理学概要 1

1 X射线的产生及其本性 1

2 X射线谱 3

3 X射线与物质交互作用的基本现象 7

4 X射线的探测和防护 11

第二章 晶体学与倒易点阵 13

1 点阵 13

2 点阵方向及点阵平面 14

3 对称 16

4 点群 17

5 晶系 18

6 布拉菲点阵(平移群) 19

7 空间群 22

8 倒易点阵 24

第三章 X射线衍射原理 28

1 衍射的基本方程与瓦尔德图解法 28

2 X射线的衍射方法 31

3 结构因子与点阵消光法则 32

4 完整小晶体的衍射强度和干涉函数 37

5 多晶体衍射强度 39

第四章 多晶体粉末照相 45

1 德拜照相成相原理 45

2 德拜相机 46

3 试样制备与调整 47

4 底片安装方式 48

5 辐射及滤波片的选择 49

6 曝光时间 51

7 衍射线位置的测量 52

8 衍射花样的晶面指数标定 52

9 聚焦相机 58

参考文献 69

第五章 X射线衍射仪 71

1 引言 71

2 X射线光源 73

3 X射线测角仪 78

4 探测与记录系统 94

5 微型电子计算机对衍射仪的运控、测量和数据处理 101

6 衍射仪主要技术指标与验收 104

7 实验与测量方法 108

参考文献 116

第六章 多晶体X射线相分析 118

1 引言 118

2 JCPDS粉末衍射卡片及索引 119

3 X射线衍射相分析方法 123

4 电子计算机自动检索方法 128

5 多晶体相分析中存在的一些问题 132

6 单颗微粒的X射线相分析 135

参考文献 139

第七章 X射线衍射定量相分析 140

1 引言 140

2 定量相分析的基本原理 141

3 外标法 142

4 内标法 143

5 基体冲洗法及绝热法 145

6 联立方程法 150

7 直接比较法 152

8 应注意的几个问题 158

参考文献 159

第八章 点阵参数的精确测定 161

1 一般考虑 162

2 德拜-谢乐照相法 164

3 用衍射仪法测定点阵参数 171

4 点阵参数测定的实际应用 176

参考文献 179

第九章 单晶取向的测定 181

1 极射赤面投影和心射切面投影 181

2 晶体坐标网 184

3 劳厄照相法 195

4 衍射仪法 212

参考文献 213

第十章 金属材料织构的测定 214

1 引言 214

2 织构的类型及其描述方法 216

3 轴向对称织构的测定 221

4 板材织构(极图)的测定 226

5 反极图的测定 241

6 织构分析的取向分布函数法 245

7 结束语 257

参考文献 258

第十一章 面心立方金属与合金的堆垛层错能测定 259

1 引言 259

2 层错能测量的X射线线形分析方法 260

3 两个重要的经验关系式 262

4 面心立方金属和合金堆垛层错能的测定--X射线织构法 264

参考文献 272

第十二章 有序无序转变 274

1 长程有序度的定义 274

2 有序化的X射线衍射效应 275

3 形成超点阵线的物理原因 276

4 实验及计算 278

5 近程有序度的测定 279

参考文献 282

第十三章 显微畸变和嵌镶碎化尺寸的X射线分析 283

1 近似函数图解法 284

2 瓦伦-艾弗巴赫傅氏分析法 329

3 方差分析法 348

附录 350

参考文献 361

第十四章 宏观残余应力测定 363

1 引言 363

2 宏观残余应力的测量原理和方法 364

3 应力常数的确定及定峰方法 370

4 X射线应力分析仪器 376

5 样品状态对应力测定的影响 380

6 侧倾法 382

7 应力测定中的一些问题 388

参考文献 390

第十五章 调幅结构的X射线分析 392

1 不完整晶体X射线衍射强度的普遍公式 393

2 调幅结构的衍射图象及形成原理 399

3 实验技术 405

4 应用实例 406

参考文献 409

附录 411

1.元素的特征谱及吸收限波长×10(？) 411

2.质量吸收系数μι/ρ及密度ρ 413

3.原子散射因子f 415

4.△f′к数值 418

5.△f″к数值 420

6.元素原子的散射能参数δк 420

7.德拜函数Φ(x)数值 421

8.德拜函数？+？数值 421

9.德拜-瓦伦温度因子е-Bsln?/λ3=e-M 422

10.立方晶系晶面(或晶向)间夹角 424

11.六角晶系晶面间夹角(°) 431

12.透射法在不同ɑ°、2θ°和e-μt条件下的强度校正因子？×100 432