图书介绍
材料组织结构的表征 第2版pdf电子书版本下载
- 戎咏华，姜传海编著 著
- 出版社： 上海：上海交通大学出版社
- ISBN：9787313176059
- 出版时间：2017
- 标注页数：390页
- 文件大小：136MB
- 文件页数：415页
- 主题词：金属材料－结构性能－性能分析
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图书目录
绪论 1
第1篇 金相显微术 11
第1章 金相显微镜的光学基础与构造 11
1.1 光学基础 11
1.1.1 反射和折射定律 11
1.1.2 光的性质和可视性 12
1.1.3 偏振光 14
1.1.4 光的衍射和干涉 21
1.1.5 几何光学 22
1.2 透镜的光学缺陷和设计 25
1.2.1 透镜光学缺陷 25
1.2.2 透镜的设计和特性 25
1.3 照明方式 28
1.3.1 科勒照明 28
1.3.2 明场照明 30
1.3.3 暗场照明 31
1.3.4 新型无限远光学系统 32
1.4 性能参数 32
1.4.1 衍射与分辨率 32
1.4.2 有效放大倍率 34
1.4.3 景深 35
1.4.4 工作距离和视域范围 35
1.5 图像记录和处理及分析 36
1.5.1 显微照相 36
1.5.2 视频显微术 37
1.5.3 数字CCD显微术 37
1.5.4 图像处理与定量分析 38
1.6 金相显微镜的操作 39
1.6.1 光源的调整 39
1.6.2 光阑的调整 39
第2章 金相试样的制备 40
2.1 金相试样的制备步骤 40
2.1.1 取样和镶嵌 40
2.1.2 研磨与抛光 40
2.1.3 浸蚀 42
2.1.4 现代金相样品制备技术概述 45
2.2 常用浸蚀剂显示金相组织举例 46
2.2.1 硝酸酒精浸蚀剂 46
2.2.2 苦味酸浸蚀剂 46
2.2.3 LB染色浸蚀剂 46
2.2.4 Klemm浸蚀剂 47
2.2.5 Beraha浸蚀剂 48
2.2.6 Lepera浸蚀剂 49
第3章 相位衬度显微镜 50
3.1 相位衬度显微术原理 50
3.2 相衬显微镜的光学设计 52
3.3 金相显微镜和生物显微镜光学布置的差异 54
第4章 偏振光显微镜 56
4.1 偏振光的反射特征 56
4.2 反射式偏振光显微镜的光学布置和使用 57
4.3 应用举例 58
4.3.1 各向异性组织的显示 58
4.3.2 非金属夹杂物的鉴别 59
4.3.3 复合夹杂物的定性鉴别 59
第5章 微分干涉衬度显微镜 60
5.1 DIC光学系统 60
5.2 DIC图像的形成 61
5.3 DIC图像与其他成像方式图像的比较 63
第6章 共聚焦激光扫描显微镜 65
6.1 共聚焦成像的光学原理 65
6.2 影响共聚焦图像质量因素 66
6.3 共聚焦显微镜的功能和应用 67
第2篇 X射线衍射分析 71
第7章 X射线物理学基础 71
7.1 X射线衍射分析发展简史 71
7.2 X射线本质及其波谱 73
7.2.1 X射线本质 73
7.2.2 X射线谱 74
7.3 X射线与物质相互作用 78
7.3.1 X射线散射 78
7.3.2 X射线真吸收 79
7.3.3 X射线衰减规律 80
7.3.4 X射线吸收效应的应用 82
7.4 X射线防护 83
第8章 X射线衍射方向 84
8.1 晶体几何学 84
8.1.1 晶体结构 84
8.1.2 晶体投影 87
8.1.3 倒易点阵 90
8.2 布拉格方程 92
8.2.1 布拉格方程的推导 93
8.2.2 布拉格方程的讨论 94
8.2.3 倒易空间中的衍射条件 95
8.3 厄瓦尔德图解 95
8.3.1 厄瓦尔德图解 96
8.3.2 厄瓦尔德图解示例 97
第9章 X射线衍射强度 100
9.1 单个晶胞散射强度 100
9.1.1 单个电子散射强度 100
9.1.2 单个原子散射强度 100
9.1.3 单个晶胞散射强度 101
9.2 单个理想小晶体散射强度 104
9.2.1 干涉函数 104
9.2.2 衍射畴 105
9.3 实际多晶体衍射强度 106
9.3.1 实际小晶粒积分衍射强度 106
9.3.2 实际多晶体衍射强度 106
9.3.3 多晶体衍射强度计算方法 110
第10章 X射线衍射方法 112
10.1 照相法 112
10.1.1 德拜—谢乐法 112
10.1.2 聚焦法 114
10.1.3 针孔法 114
10.2 衍射仪法 115
10.2.1 测角仪 115
10.2.2 计数器 118
10.2.3 单色器 120
10.3 测量条件 122
10.3.1 试样要求 122
10.3.2 影响测量结果的因素 122
10.3.3 测量条件示例 125
第11章 多晶物相分析 126
11.1 标准卡片及其索引 126
11.1.1 卡片介绍 126
11.1.2 索引方法 128
11.2 定性物相分析 130
11.2.1 手工检索 130
11.2.2 计算机检索 131
11.2.3 其他问题 133
11.3 定量物相分析 134
11.3.1 基本原理 134
11.3.2 分析方法 135
11.3.3 其他问题 138
第12章 晶体结构与点阵参数分析 140
12.1 晶体结构识别 140
12.1.1 基本原理 140
12.1.2 立方晶系指标化 141
12.1.3 其他问题 143
12.2 点阵参数的精确测定 144
12.2.1 德拜法误差来源 144
12.2.2 衍射仪法误差来源 145
12.2.3 消除系统误差方法 148
12.3 晶体结构模型分析 151
12.3.1 原理与方法 151
12.3.2 其他问题 151
第13章 应力测量与分析 152
13.1 测量原理 152
13.1.1 内应力分类 152
13.1.2 测量原理 154
13.2 测量方法 156
13.2.1 测量方式 156
13.2.2 试样要求 158
13.2.3 测量参数 159
13.3 数据处理方法 160
13.3.1 衍射峰形处理 160
13.3.2 定峰方法 161
13.3.3 误差分析 164
13.4 三维应力及薄膜应力测量 164
13.4.1 三维应力测量 164
13.4.2 薄膜应力测量 165
第14章 衍射谱线形分析 167
14.1 谱线宽化效应及卷积关系 167
14.1.1 几何宽化效应 167
14.1.2 物理宽化效应 168
14.1.3 谱线卷积关系 170
14.2 谱线宽化效应分离 171
14.2.1 强度校正与Kα双线分离 171
14.2.2 几何宽化与物理宽化的分离 173
14.2.3 细晶宽化与显微畸变宽化的分离 174
14.3 非晶材料X射线分析 176
14.3.1 径向分布函数 176
14.3.2 结晶度计算 178
14.4 小角X射线散射分析 179
14.4.1 基本原理 179
14.4.2 吉尼叶公式及应用 180
第15章 多晶织构测量和单晶定向 182
15.1 多晶体织构测量 182
15.1.1 织构分类 182
15.1.2 极图及其测量 183
15.1.3 反极图及其测量 187
15.1.4 三维取向分布函数 188
15.2 单晶定向 190
15.2.1 单晶劳厄法的特点 190
15.2.2 单晶定向方法 192
第3篇 电子显微分析 197
第16章 透射电子显微镜的原理和构造 197
16.1 入射电子在固体样品中所激发的信号及其体积 197
16.1.1 激发的信号 197
16.1.2 电子束激发体积 198
16.2 透射电子显微镜的构造 199
16.2.1 电子波长 200
16.2.2 电子透镜 201
16.3 成像方式和变倍原理 211
16.4 透射电子显微镜的理论分辨本领极限 212
第17章 透射电子显微镜的样品制备 215
17.1 表面复型技术概述 215
17.2 质厚衬度原理 216
17.2.1 单个原子对入射电子的散射 217
17.2.2 质厚衬度成像原理 217
17.3 一级复型与二级复型 219
17.3.1 塑料一级复型 219
17.3.2 碳一级复型 220
17.3.3 塑料碳二级复型 222
17.4 抽取复型 223
17.5 粉末样品 224
17.6 薄膜样品的制备方法 225
17.6.1 直接制得薄膜样品 225
17.6.2 大块晶体样品制成薄膜的技术 225
17.6.3 聚焦离子束方法 229
第18章 电子衍射和衍衬成像 232
18.1 电子衍射与X射线衍射的比较 232
18.2 衍射产生的条件 233
18.3 电子衍射几何分析公式及相机常数 235
18.4 选区电子衍射的原理及操作 238
18.5 多晶电子衍射花样的标定及其应用 239
18.5.1 多晶衍射花样的产生及几何特征 239
18.5.2 多晶电子衍射花样的主要应用 240
18.6 单晶电子衍射花样的分析 242
18.6.1 单晶电子衍射花样的几何特征和强度 242
18.6.2 单晶电子衍射花样的标定方法 245
18.6.3 单晶电子衍射花样的应用 249
18.7 复杂电子衍射花样的特征和识别 252
18.7.1 高阶劳厄区斑点 252
18.7.2 超点阵斑点 253
18.7.3 孪晶衍射花样 253
18.7.4 二次衍射斑点 254
18.7.5 菊池衍射花样 256
18.8 衍射衬度成像原理及应用 259
18.8.1 透射电子像衬度的分类 259
18.8.2 衍衬成像的方法和原理 260
18.8.3 衍衬运动学理论 261
18.8.4 衍衬成像的应用举例 268
18.8.5 透射电子显微镜动态观察 271
第19章 分析电子显微镜 274
19.1 分析电子显微镜特点 274
19.2 高分辨电子显微术的基本原理 274
19.2.1 电子散射和傅里叶变换 274
19.2.2 高分辨像形成过程描述的两个重要函数 276
19.2.3 谢尔策欠焦 278
19.2.4 弱相位体高分辨像的直接解释 279
19.3 薄膜样品的X射线能谱分析 280
19.3.1 薄样品分析原理 281
19.3.2 薄样品厚度的判据 282
19.3.3 薄样品的空间分辨率 282
19.3.4 薄样品的检测灵敏度 282
19.4 微衍射花样与会聚束电子衍射 283
19.4.1 微衍射花样 283
19.4.2 会聚束电子衍射 284
19.4.3 电子能量损失谱 287
19.4.4 分析电子显微术应用举例 291
19.4.5 分析电子显微镜的进展及其分析新技术简介 294
第20章 扫描电子显微镜 300
20.1 扫描电子显微镜的工作原理和构造 300
20.1.1 工作原理 300
20.1.2 构造 302
20.2 扫描电子显微镜的像衬度原理及其应用 303
20.2.1 表面形貌衬度的原理 303
20.2.2 表面形貌衬度改善的电子减速技术 306
20.2.3 原于序数衬度原理 308
20.2.4 二次电子和背散射电子任意混合的ExB技术 310
20.2.5 扫描透射电子显微术 311
20.3 电子背散射衍射分析及其应用 312
20.3.1 电子背散射衍射工作原理和仪器结构 312
20.3.2 电子背散射花样晶体取向和织构分析原理 314
20.3.3 晶体取向的EBSD测定举例 327
第21章 电子探针X射线显微分析仪 329
21.1 电子探针的分析原理和构造 329
21.1.1 分析原理 329
21.1.2 构造 329
21.2 电子探针的分析方法和应用 335
21.2.1 分析方法 336
21.2.2 定量分析基本原理简介 338
21.2.3 应用 339
第22章 扫描探针显微镜 340
22.1 扫描隧道显微镜 340
22.1.1 STM原理和工作模式 340
22.1.2 STM系统的组成 342
22.2 原子力显微镜 344
22.2.1 AFM原理与结构 345
22.2.2 AFM的工作模式 348
第4篇 X射线光电子能谱和激光拉曼光谱 353
第23章 X射线光电子能谱 353
23.1 X射线光电子能谱分析原理 353
23.1.1 光电效应 353
23.1.2 XPS分析的基本方程 354
23.1.3 化学位移 355
23.2 谱仪的结构 356
23.2.1 激发源 356
23.2.2 样品室 357
23.2.3 电子能量分析器 357
23.2.4 电子检测器 358
23.3 应用举例 358
23.3.1 铍的氧化过程的鉴别 358
23.3.2 29Cr超级双相不锈铸钢表面腐蚀的XPS分析 359
第24章 激光拉曼光谱 363
24.1 拉曼光谱产生的经典理论解释 363
24.2 激光拉曼谱仪的构造 367
24.2.1 激光光源 368
24.2.2 收集光学系统 368
24.2.3 单色仪和干涉仪 368
24.2.4 检测和控制系统 369
24.3 拉曼光谱的定性和定量分析 370
24.3.1 定性分析 370
24.3.2 定量分析 372
24.4 拉曼光谱应用的举例 372
24.4.1 钢大气腐蚀锈层的拉曼光谱研究 372
24.4.2 激光淬火及熔覆层性能与物相变化的拉曼光谱研究 374
思考题与练习题 377
参考文献 388