图书介绍

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微电子专业英语
  • 吕红亮,李聪等编著;贾新章主审 著
  • 出版社: 北京:电子工业出版社
  • ISBN:9787121177606
  • 出版时间:2012
  • 标注页数:326页
  • 文件大小:41MB
  • 文件页数:338页
  • 主题词:微电子技术-英语-高等学校-教材

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图书目录

Session 1 Introduction to Semiconductor 1

1.1 What is Semiconductor 1

1.2 Classification of Semiconductor 3

Reading Materials 3

Session 2 Crystal Structure 9

2.1 Primitive Cell and Crystal Plane 9

2.2 Atomic Bonding 11

Reading Materials 12

Session 3 Band Model 17

3.1 Introduction to Quantum Mechanics 17

3.2 Band 18

3.3 Effective Mass Theory 19

Reading Materials 20

Session 4 The Semiconductor in Equilibrium 23

4.1 Charge Carriers in Semiconductor 23

4.2 Intrinsic Semiconductor 25

4.3 Extrinsic Semiconductor 26

Reading Materials 28

Session 5 Carrier Transport 32

5.1 Overview of Carrier Transport 32

5.2 Low Field Transport 33

5.3 High Field Transport 35

5.4 Diffusion Current 35

Session 6 Nonequilibrium Excess Carriers in Semiconductor 41

6.1 Recombination 41

6.2 Minority Carrier Lifetime 43

6.3 Ambipolar Transport 44

Reading Materials 45

Session 7 The pn Junction(Ⅰ) 48

7.1 Introduction 48

7.2 Basic Structure of the pn Junction 48

7.3 Energy Bands for a pn Junction 49

7.4 Ideal Current-Voltage Relationship 49

7.5 Characteristics of a Practical Diode 50

Reading Materials 51

Session 8 The pn Junction(Ⅱ) 56

8.1 Breakdown in pn Junction 56

8.2 Small-Signal Diffusion Resistance of the pn Junction 56

8.3 Junction Capacitance 57

8.4 Diffusion or Storage Capacitance 58

8.5 Diode Transients 59

8.6 Circuit Models for Junction Diodes 59

Reading Materials 60

Session 9 Metal-Semiconductor Contacts 64

9.1 Schottky Contacts 64

9.2 Ohmic Contacts 69

Reading Materials 70

Session 10 Heterojunctions 74

10.1 Strain and Stress at Heterointerfaces 74

10.2 Heterojunction Materials 75

10.3 Energy-Band Diagrams 77

Reading Materials 78

Session 11 The Bipolar Junction Transistor(Ⅰ) 81

11.1 The Bipolar Junction Transistor Construction 81

11.2 Transistor Action 81

11.3 Nonideal Effects 82

11.4 Base Resistance 84

Reading Materials 85

Session 12 The Bipolar Junction Transistor(Ⅱ) 89

12.1 Breakdown Voltage 89

12.2 Frequency Limits of BJT 90

12.3 The Schottky-Clamped Transistor 91

12.4 Small-signal Transistor Model 92

Reading Materials 93

Session 13 Basics of MOSFETs 96

13.1 Introduction 96

13.2 General Characteristics of a MOSFET 96

13.3 MOS System 97

13.4 Work Function Differences 98

13.5 Flat-Band Voltage 99

13.6 Threshold Voltage 99

Reading Materials 100

Session 14 Nonideal Effects of MOSFETs 103

14.1 Introduction 103

14.2 Effective Mobility 103

14.3 Velocity Saturation 103

14.4 Channel-length Modulation 104

14.5 DIBL 104

14.6 Hot-carrier Effect 105

14.7 GIDL 106

Reading Materials 106

Session 15 Advanced MOSFET Devices 111

15.1 Introduction 111

15.2 Channel Doping Profile 111

15.3 Gate Stack 111

15.4 Source/Drain Design 112

15.5 Schottky-Barrier Source/Drain 113

15.6 Raised Source/Drain 113

15.7 SOI 114

15.8 Three Dimensional Structure 115

Reading Materials 115

Session 16 Introduction to Integrated Circuits 120

16.1 Introduction 120

16.2 Size and Complexity of Integrated Circuits 121

16.3 Semiconductor Device for Integrated Circuits 122

16.4 IC Design Process 124

Reading Materials 126

Session 17 Analog Integrated Circuits Design 131

17.1 Introduction 131

17.2 Analog Signal Processing 133

17.3 CMOS Technology 134

17.4 Amplifiers 134

17.5 Differential Amplifiers 135

17.6 Operational Amplifiers 136

17.7 Characterization of Op Amps 137

Reading Materials 138

Session 18 Digital Integrated Circuits Design 143

18.1 Introduction 143

18.2 The Static CMOS Inverter 143

18.3 Designing Combinational Logic Gates in CMOS 146

Reading Materials 151

Session 19 Radio Frequency Integrated Circuits Design 156

19.1 Introduction 156

19.2 RF System Performance Metrics 157

19.3 RF Transceiver Architectures 158

19.4 RF Passive Component 159

19.5 Receiver 159

19.6 Frequency Synthesizer 160

19.7 Transmitter 161

Reading Materials 163

Session 20 Simulation and Verification 171

20.1 Introduction 171

20.2 SPICE Circuit Simulator 171

20.3 Circuit Design Automation with Verilog 174

20.4 Verification 176

Reading Materials 177

Session 21 Introduction to the Semiconductor Technology(Ⅰ) 182

21.1 The Development of Semiconductor Technology 182

21.2 Wafer Fabrication 183

Reading Materials 187

Session 22 Introduction to the Semiconductor Technology(Ⅱ) 191

22.1 Assembly 191

22.2 Metrology 193

Reading Materials 196

Session 23 Bipolar Technology and GaAs Digital Logic Process 199

23.1 Bipolar Technology 199

23.2 GaAs Digital Logic Process 204

Reading Materials 207

Session 24 CMOS Technology 212

24.1 CMOS Fabrication Sequence 212

24.2 Twin Well and Retrograde Well 214

24.3 Isolation 215

24.4 Structures that Reduce the Drain Field 216

24.5 Gate Engineering 216

Reading Materials 217

Session 25 Reliability 222

25.1 Introduction 222

25.2 Failure Modes 223

Reading Materials 228

参考译文 233

第1讲 半导体概述 233

1.1 什么是半导体 233

1.2 半导体的分类 234

第2讲 晶体结构 235

2.1 原胞和晶面 235

2.2 原子价键 236

第3讲 能带模型 237

3.1 量子力学简介 237

3.2 能带 238

3.3 有效质量理论 239

第4讲 平衡半导体 239

4.1 半导体中的带电载流子 240

4.2 本征半导体 241

4.3 非本征半导体 242

第5讲 载流子输运 243

5.1 载流子输运概要 243

5.2 低场输运 244

5.3 强场输运 246

5.4 扩散电流 246

第6讲 半导体中的非平衡过剩载流子 248

6.1 复合 248

6.2 少数载流子寿命 249

6.3 双极输运 250

第7讲 pn结(Ⅰ) 251

7.1 概述 251

7.2 pn结的基本结构 251

7.3 pn结的能带图 251

7.4 理想电流-电压关系 252

7.5 实际二极管特性 252

第8讲 pn结(Ⅱ) 253

8.1 pn结击穿 253

8.2 pn结的小信号扩散电阻 254

8.3 结电容 254

8.4 扩散电容(存储电容) 255

8.5 二极管瞬态特性 255

8.6 pn结二极管的电路模型 256

第9讲 金属—半导体接触 256

9.1 肖特基接触 256

9.2 欧姆接触 259

第10讲 异质结 260

10.1 异质界面的应变与应力 261

10.2 异质结材料 261

10.3 能带图 263

第11讲 双极晶体管(Ⅰ) 265

11.1 双极晶体管结构 265

11.2 晶体管作用 265

11.3 非理想效应 266

11.4 基区电阻 267

第12讲 双极晶体管(Ⅱ) 268

12.1 击穿电压 268

12.2 双极晶体管的频率特性 269

12.3 肖特基钳位晶体管 269

12.4 晶体管的小信号模型 270

第13讲 MOSFET基础 271

13.1 引言 271

13.2 MOSFET的一般特征 271

13.3 MOS系统 272

13.4 功函数差 273

13.5 平带电压 273

13.6 阈值电压 273

第14讲 MOSFET的非理想效应 274

14.1 引言 274

14.2 有效迁移率 274

14.3 速度饱和 274

14.4 沟道调制效应 274

14.5 漏致势垒降低 275

14.6 热电子效应 275

14.7 栅感应漏极泄漏 276

第15讲 先进的MOSFET器件 276

15.1 引言 276

15.2 沟道掺杂分布 276

15.3 栅叠层 277

15.4 源/漏设计 277

15.5 肖特基源/漏 277

15.6 提升的源/漏 278

15.7 SOI(绝缘层上的硅) 278

15.8 三维结构 279

第16讲 集成电路简介 279

16.1 概述 279

16.2 集成电路的面积和复杂度 280

16.3 集成电路中的半导体器件 281

16.4 集成电路设计过程 282

第17讲 模拟集成电路设计 283

17.1 概述 283

17.2 模拟信号处理 285

17.3 CMOS工艺 286

17.4 放大器 286

17.5 差分放大器 286

17.6 运算放大器 287

17.7 运放的特点 288

第18讲 数字集成电路 289

18.1 介绍 289

18.2 静态CMOS反相器 289

18.3 CMOS组合逻辑门的设计 291

第19讲 射频集成电路设计 294

19.1 概述 294

19.2 射频系统的性能指标 295

19.3 射频收发机的结构 296

19.4 无源射频元件 296

19.5 低噪声放大器 297

19.6 频率合成器 297

19.7 发射机 298

第20讲 仿真与验证 299

20.1 简介 299

20.2 SPICE电路仿真器 299

20.3 使用Verilog进行电路的自动设计 302

20.4 验证 303

第21讲 半导体技术简介(Ⅰ) 304

21.1 半导体技术的发展 304

21.2 晶片制造 304

第22讲 半导体技术简介(Ⅱ) 308

22.1 组装 308

22.2 测量 309

第23讲 双极技术和砷化镓数字逻辑工艺 312

23.1 双极技术 312

23.2 砷化镓数字逻辑工艺 315

第24讲 CMOS工艺 317

24.1 CMOS制造流程 317

24.2 双阱和倒掺杂阱 318

24.3 隔离 319

24.4 降低漏端电场的结构 319

24.5 栅工程 320

第25讲 可靠性 321

25.1 概述 321

25.2 失效模型 322

参考文献 326

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