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第一章 光干涉和综合孔径技术发展 1

1.1 光干涉技术的早期历史 1

1.2 近代实用光干涉与综合孔径技术发展 2

1.3 空间光干涉与综合孔径技术发展应用 5

1.4 我国光干涉与综合孔径技术发展 9

参考文献 11

第二章 基本原理 13

2.1 传统望远镜的成像原理 13

2.2 光干涉原理 17

2.2.1 光波场的相干性和复相干度 17

2.2.2 范西特—泽尼克（Van Cittert-Zemike）定理 26

2.2.3 成像作为一个干涉量度过程 29

2.2.4 非均匀发光面源的空间相干性 31

2.3 光学综合孔径成像原理 34

2.3.1 光干涉数据重构成像 34

2.3.2 光学稀疏孔径直接成像 36

参考文献 38

第三章 光学干涉数据重构成像方法 40

3.1 系统结构和观测目标的关系 41

3.2 系统的数据采集和处理 44

3.3 系统的视场分析 46

3.4 系统阵列排列和空间频率覆盖 53

3.4.1 综合孔径望远镜子孔径排列原则 53

3.4.2 直线阵的排列 54

3.4.3 直线阵取样过程及效果的模拟 57

3.4.4 圆形数组的初步结果和设想 58

3.5 重构成像实例 61

参考文献 64

第四章 光学稀疏孔径直接成像方法 66

4.1 稀疏孔径成像的直观解释 66

4.1.1 从物平面出发的直观解释 66

4.1.2 从像平面出发的直观解释 67

4.2 系统性能分析 68

4.2.1 光学传递函数 68

4.2.2 能量收集效率 69

4.2.3 成像信噪比分析 70

4.3 系统布阵探讨 76

4.4 共相叠加技术分析 78

4.5 图像复原及评价 84

4.5.1 光学稀疏孔径成像系统的图像复原算法 84

4.5.2 光学稀疏孔径成像系统的图像质量评价 87

4.5.3 光学稀疏孔径系统成像的计算机模拟及图像复原 91

4.6 稀疏孔径成像与单个孔径成像的比较 93

4.7 光学稀疏孔径直接成像实验 100

4.7.1 法国Solarnet实验系统 100

4.7.2 稀疏孔径阵列结构及成像实验 105

参考文献 115

第五章 稀疏孔径直接成像系统设计范例 118

5.1 等效孔径150mm直接成像实验室演示系统 118

5.1.1 系统的主要构成及功能 118

5.1.2 系统的技术要求 123

5.1.3 系统的容差分析及误差分配 124

5.2 等效孔径25m直接成像系统设计 124

5.2.1 基本结构参数的确定 125

5.2.2 光学系统设计 127

5.2.3 系统误差分析 132

5.2.4 光学稀疏孔径系统成像的数值仿真 134

参考文献 141

第六章 光学综合孔径成像方法比较分析 143

6.1 两种成像方法系统结构比较 143

6.2 两种成像方法成像原理比较 144

6.2.1 两种系统的共同的等效光路图 144

6.2.2 两种系统的点扩散函数比较 145

6.2.3 两种系统的光学传递函数比较 146

6.3 两种成像方法图像处理过程比较 146

6.3.1 综合孔径光干涉重构成像的图像处理过程 146

6.3.2 光学稀疏孔径直接成像的图像处理过程 147

6.4 两种成像方法技术难题比较 148

6.4.1 相同部分 148

6.4.2 不同部分 148

6.4.3 子孔径大小对两种系统的影响 149

6.5 两种成像方法优缺点及适用范围比较 149

6.5.1 综合孔径光干涉重构成像的优缺点 149

6.5.2 光学稀疏孔径直接成像方法的优缺点 150

6.5.3 两种系统的特点比较 150

参考文献 151

第七章 光学综合孔径成像关键技术 152

7.1 综合孔径光干涉重构成像关键技术分析 152

7.1.1 综合孔径光干涉重构成像关键技术分类 152

7.1.2 高精度激光测量与检测系统分析 152

7.2 稀疏孔径直接成像关键技术分析 153

7.2.1 稀疏孔径直接成像关键技术分类 153

7.2.2 面阵CCD探测器的分辨率要求 154

7.3 光纤与集成光学——光干涉应用新技术 159

7.3.1 空间光干涉成像技术的发展趋势 159

7.3.2 原理 159

7.3.3 实验研究 161

参考文献 162

后记 163