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电子元器件可靠性设计

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文件大小：50MB　标注页数：514页　文件页数：535页

MD5：d2d6c2564f3828a617cfd4f918362b33

ISBN：7030196384

出版社：北京：科学出版社

作者：王蕴辉，于宗光，孙再吉主编

出版时间：2007

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