电子元器件失效分析技术

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文件大小：172MB　标注页数：455页　文件页数：475页

MD5：902e95d184fef54c6d3b5ef68bfc3c71

ISBN：9787121272301

出版社：北京：电子工业出版社

作者：工业和信息化部电子第五研究所组编；恩云飞，来萍，李少平编著；师谦，许广宁，何小琦，何胜宗等编写组成员

出版时间：2015