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1绪论 1

1.1实验在科学发展中的重要作用 1

1.2实验方法的选择 2

参考文献 15

2核磁共振（NMR）谱学 17

2.1概述 17

2.2基本原理 17

2.3实验方法和新技术 24

2.4 NMR在材料科学中的应用 28

参考文献 49

3正电子湮没技术（PAT） 52

3.1 PAT的基础知识 52

3.2实验方法 62

3.3正电子湮没技术的应用 72

3.4正电子素 86

3.5结束语 88

参考文献 88

4原子探针——场离子显微镜（AP—FIM） 95

4.1场离子显微术原理 96

4.2原子探针（AP） 110

4.3AP-FIM的应用 122

参考文献 132

5卢瑟福背散射谱学 137

5.1实验方法及基本设备 137

5.2基本原理 138

5.3背散射谱的分析方法 144

5.4沟道效应 151

5.5应用举例 155

5.6总结 161

参考文献 162

6二次离子质谱学 164

6.1基本物理过程 164

6.2基本装置及实验方法 170

6.3 SIMS分析实例 176

6.4 SIMS方法的特点和局限性 180

参考文献 181

7俄歇电子能谱学 182

7.1基本原理 182

7.2基本装置与实验方法 189

7.3应用实例 195

参考文献 203

8 X射线光电子能谱学 204

8.1基本原理 204

8.2基本装置 205

8.3 XPS谱 206

8.4分析方法 215

8.5应用 217

8.6 XPS与SIMS、AES的特点对比 223

参考文献 224

9中子活化分析 226

9.1概述 226

9.2中子活化分析的基本原理 229

9.3核蜕变和辐射的探测 234

9.4中子活化方法一般应用及实例 238

9.5活化技术在材料物理中的应用 242

参考文献 261

10扰动角关联 262

10.1扰动角关联技术 262

10.2扰动角关联在材料研究中的应用 270

10.3结束语 291

参考文献 292

11 X射线吸收精细结构（XAFS）谱 294

11.1 XAFS原理 294

11.2 XAFS理论 298

11.3 XAFS实验 301

11.4 XAFS数据分析方法 306

11.5 XAFS误差分析和国际规范 310

11.6 XAFS应用及发展 312

参考文献 319

12中子散射技术 323

12.1概述 323

12.2中子的基本性质、中子的产生、中子的探测及其防护 324

12.3中子散射的基本原理与方法 328

12.4中子散射的基本实验设备简述 339

12.5中子散射的应用 342

参考文献 362

13核反应分析及质子荧光X射线分析 364

13.1核反应分析基本原理 364

13.2核反应分析技术 366

13.3核反应分析应用举例 367

13.4核反应分析的特点 371

13.5质子X射线荧光分析基本原理 372

13.6 PIXE分析技术 375

13.7 PIXE的应用 378

13.8 PIXE分析的特点 380

参考文献 381

14分析电子显微镜技术 382

14.1概述 382

14.2分析电子显微镜基本原理 383

14.3 X射线能谱分析（XEDS） 393

14.4电子能量损失谱分析的原理和应用 418

14.5微区电子衍射 433

参考文献 443

15激光和同步辐射技术 445

15.1激光测试技术 445

15.2同步辐射技术 450

参考文献 456

16穆斯堡尔谱学 458

16.1原理 458

16.2实验方法及数据处理 467

16.3超精细相互作用 476

16.4穆斯堡尔效应在材料物理中的应用 489

参考文献 499

17扫描隧道显微镜（STM） 502

17.1概述 502

17.2 STM原理及基本理论 503

17.3 STM系统简介 509

17.4实验方法 512

17.5 STM的应用 518

参考文献 530

附录一 534

附录二 536

附录三 538

编者通讯录 539