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目录 1

第一章 X射线物理学基础 5

§1-1X射线的产生及其性质 5

§1-2X射线谱 7

§1-3X射线的散射 13

§1-4X射线的衰减 16

第二章 布拉格方程与粉末照相 20

§2-1X射线在晶体中的衍射 20

§2-2布拉格方程 20

§2-3X射线衍射方法 22

§2-4粉末照相法 23

第三章 衍射原理与分析 30

§3-1晶体学基本知识 30

§3-2衍射的基本方程式（劳埃方程式） 36

§3-3简单点阵的衍射分析 41

§3-4复杂点阵的衍射分折 42

第四章 衍射强度及衍射仪 51

X射线衍射强度 51

§4-1多晶体衍射强度的概念 51

§4-2结构因数及原子散射因数 52

§4-3多重性因数 54

§4-4角因数 55

§4-5吸收因数 58

§4-6温度因数 60

§4-7衍射强度的计算 62

§4-8衍射强度的测量 64

§4-10X射线光学布置 65

X射线衍射仪 65

§4-9一般介绍 65

§4-11计数器 67

§4-12定标器与计数率仪 71

§4-13衍射线强度的计算与测量 73

§4-14衍射仪法与照相法的比较 74

§4-15实验参数的选择 75

第五章 点阵参数的精确测定 77

§5-1一般考虑 77

§5-2误差的来源 79

§5-3用精密实验方法消除误差 82

§5-4用图解法消除误差 84

§5-5用最小二乘方法（柯亨法）消除误差 86

§5-6其它照相法 88

§5-7用标准样对比消除误差 92

§5-8用衍射仪法测定点阵参数 94

§5-9点阵参数精确测定的应用 95

第六章 物相分析 98

§6-1物相定性分析的特点，荧光X射线分析简介 98

§6-2定性分析的原理及方法 99

§63定性分析中的一些问题 107

§6-4定量分析基本原理 110

§6-5单线条法 111

§6-6内标法 113

§6-7K值法及绝热法 114

§6-9等强线对法 118

§6-8直接对比法 118

第七章 宏观应力测定 121

§7-1引言 121

§7-2应力测定原理 122

§7-3测试方法与参数 126

§7-4应力测定中的其它问题 133

第八章 晶粒大小及微观应力的测定 139

§8-1晶粒大小在10-3～10-2厘水（10～100微米）时的测定方法 139

§8-2晶粒大小在10-5～10-7厘米范围内的测定方法 141

§8-3微观应力（第二类内应力）引起线条真实宽化的理论 147

§8-4测定晶块尺寸与微观应力的实验程序 150

第九章 倒易点阵与单晶体分析法 163

§9-1倒易点阵基础 163

§9-2晶体投影法 170

§9-3劳埃法 178

§9-4周转晶体法 185

第十章 织构测定 193

§10-1引言 193

§10-2用照相法测定金属丝织构 193

§10-3多晶体极图 198

§10-4用照相法测定金属板织构 200

§10-5用衍射仪法测定金属板织构 204

§10-6反极图 207

结语 209

实验指导书 212

实验一 X射线晶体分析仪与粉末照相 212

实验二 立方晶系单相物质粉末相的指标化（计算法） 221

实验三 利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析 231

实验四 用直接对比法测定淬火钢中残余奥氏体含量 239

实验五 淬火钢的宏观应力测定 244

实验六 用劳埃法测定单晶体的取向 251

附录 259

附录1 物理常数 259

附录2 元素的特征发射谱线及吸收限波长，埃 259

附录3 质量吸收系数μ1/ρ及密度ρ 261

附录4 滤波片选用表 263

附录5 立方晶系的HKL和sin2θi/sin2θ1值 263

附录6 粉末试样经验冲淡数据 266

附录7 原子散射因数f 267

附录8 原子散射因数在吸收限近旁的减小值△f 269

附录9 各种点阵的结构因数F2HKL 270

附录10 粉末法的多重性因数Phkl 270

附录11 角因数1+cos22θ/sin2θcosθ 271

附录12 圆柱粉末试样的吸收因数μ1R 272

附录13 德拜函数φ(x)/x+1/之值 274

附录14 德拜－瓦洛温度因数？=e-M 274

附录15 某些物质的特征温度Θ 275

附录16 cos2θ的数值 275

附录17 1/2(cos2θ/sinθ+cos2/θ)的数值 276

附录18 sin2θ的数值 277

附录19 Kα双重线分离度(θα2-θα1) 279

附录20 立方系晶面间夹角 280

附录21 元素的物理性质 283