超大规模集成电路设计 2 逻辑与测试pdf电子书版本下载

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目录 1

第一章 布尔代数 1

1.1 数的表示 1

1.2 布尔代数和开关理论 9

1.3 逻辑函数和标准式 13

1.4 逻辑函数的简化 17

第二章 逻辑设计基础 35

2.1 组合电路的设计 35

2.2 时序电路的设计 57

2.3 面向VLSI的系统设计 74

第三章 描述语言 92

3.1 描述语言的作用和历史 92

3.2 结构描述语言 100

3.3 功能描述语言 129

3.4 图形描述语言 154

3.5 描述语言和语言处理系统 169

第四章 逻辑模拟 175

4.1 逻辑模拟基础 175

4.2 门级模拟 181

4.3 逻辑模拟的通用化 193

第五章 故障测试序列的生成 202

5.1 故障模型和测试 202

5.2 算法 208

5.3 故障模拟 220

5.4 存贮器的测试系列 232

第六章 易测性设计 241

6.1 易测试方法 241

6.2 易测性PLA 247

6.3 时序电路的易测性设计 254

6.4 内部测试法 267

参考文献 276

索引 279