逻辑电路测试pdf电子书版本下载

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第一章 逻辑电路测试的一般概念 1

第一节 逻辑电路及其测试 1

第二节 故障 7

第三节 穷举测试法 8

第四节 故障模型 26

参考文献 38

习题 39

第二章 组合电路的测试产生 41

第一节 布尔差分法 41

第二节 D算法 50

第三节 分支判决法 68

第四节 随机测试产生 76

第五节 多故障诊断 80

参考文献 93

习题 95

第三章 测试的响应分析 97

第一节 故障模拟和响应存贮法 97

第二节 比较法 101

第三节 响应的压缩 104

第四节 特征分析器 112

参考文献 133

习题 134

第四章 时序电路的测试 135

第一节 检查实验 135

第二节 时序电路的迭代阵列模型 145

第三节 时滞测试 148

第四节 随机访问存贮器（RAM）的测试 156

参考文献 160

习题 160

第五章 可测试性设计 162

第一节 可测试性的测度 162

第二节 可测试性设计的特定方法 174

第三节 级敏扫描设计（LSSD） 178

第四节 其他可测试性设计 189

第五节 内测试 202

第六节 自治测试 208

参考文献 220

习题 221

第六章 微处理器的测试 225

第一节 微处理器的测试及可测试性设计 225

第二节 包含微处理器的数字系统的功能故障模型 233

第三节 给定功能故障的测试产生 245

第四节 微处理器的测试生成程序 255

参考文献 271

第七章 可编程序逻辑陈列的测试 272

第一节 PLA的结构 272

第二节 PLA故障模型 274

第三节 PLA的可测试性设计 301

参考文献 322

附录 323