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第1章 电子工程数学基础 1

1.1 基础代数应用 1

1.2 三角函数应用 2

1.3 微积分应用 3

1.4 复变函数 9

1.4.1 拉氏变换 10

1.4.2 Z变换 11

1.5 泰勒级数 12

1.6 傅里叶级数与傅里叶变换 12

1.6.1 傅里叶级数 14

1.6.2 傅里叶变换 14

1.6.3 傅里叶变换与工程应用 15

1.7 统计过程控制与正态分布 15

1.8 PID控制数学基础 20

1.9 电路设计机理 25

1.9.1 电子工程数学应用机理 25

1.9.2 工程设计判据 30

第2章 系统设计通用计算技术 32

2.1 应力计算 34

2.1.1 过渡过程应力 34

2.1.2 温度应力 36

2.1.3 基础元器件隐含特性分析 37

2.2 降额 43

2.2.1 降额总则 44

2.2.2 电阻降额 46

2.2.3 电容降额 50

2.2.4 集成电路降额 52

2.2.5 分立半导体元件降额 57

2.2.6 电感降额 60

2.2.7 继电器降额 61

2.2.8 开关降额 62

2.2.9 功率开关元器件降额 63

2.2.10 连接器降额 63

2.2.11 导线与电缆降额 64

2.2.12 保险丝降额 65

2.2.13 晶体降额 65

2.2.14 电机降额 66

2.2.15 降额设计补充规范与案例 66

2.3 热设计计算 67

2.3.1 传导散热计算 69

2.3.2 风冷对流散热计算 72

2.4 精度分配 74

2.4.1 最坏电路情况分析法 74

2.4.2 偏微分法 75

2.5 可靠性量化评估 77

2.5.1 MTBF理论基础 77

2.5.2 可靠性串／并联模型 79

2.5.3 可靠度评估公式 81

2.6 阻抗匹配 82

2.6.1 放大电路阻抗匹配 83

2.6.2 功率驱动电路阻抗匹配 86

2.6.3 高频电路阻抗匹配 87

2.7 蒙特卡罗分析方法 90

2.7.1 概述 90

2.7.2 设计分析案例 91

第3章 分立元器件应用计算 95

3.1 电阻 96

3.1.1 放大电路电阻选型计算 97

3.1.2 上拉电阻选型计算 100

3.1.3 电阻耐压选型 102

3.1.4 电阻功率计算 103

3.1.5 电阻串／并联使用计算 104

3.1.6 0Ω电阻的应用 105

3.2 电容 106

3.2.1 电容的参数指标 107

3.2.2 储能电容应用计算 115

3.2.3 退耦滤波电容选型计算 117

3.2.4 运算电容选型计算 119

3.2.5 隔离电容选型计算 120

3.3 电感 120

3.4 磁珠 126

3.5 插头插座 127

3.6 导线 128

3.6.1 金属线缆 128

3.6.2 PCB布线 132

3.7 保险丝 133

3.8 TVS 137

3.9 压敏电阻 140

3.10 气体放电管 144

3.11 散热片 145

3.12 风扇 147

3.13 晶体振荡器 149

3.14 二极管 151

第4章 集成元器件应用计算 154

4.1 数字IC 154

4.2 A／D转换器 159

4.2.1 ADC选型参数 159

4.2.2 ADC软件运算精度 165

4.2.3 ADC抗干扰措施 166

4.3 运算放大器 167

4.3.1 运算放大器参数指标分析 169

4.3.2 单端输入运算放大电路计算 177

4.3.3 双端差分输入运算放大电路计算 181

4.3.4 集成运放技巧 184

4.4 电源滤波器 188

4.5 传感器 192

4.6 LDO电源模块 194

4.7 功率开关管 195

4.7.1 功率开关管失效机理 195

4.7.2 功率开关管防护设计 196

4.8 软件计算 199

第5章 电子产品统计过程控制（SPC） 201

5.1 选点及数据采集 203

5.1.1 选点 203

5.1.2 数据采集 203

5.2 控制图的制作 204

5.2.1 直方图的制作 204

5.2.2 均值极差图制作 206

5.2.3 均值标准差图的制作 207

5.2.4 不合格品数np图的制作 208

5.2.5 不合格品数c图的制作 208

5.3 过程能力指数的计算 209

5.3.1 过程能力指数的计算 209

5.3.2 提高过程能力指数的方法 210

5.4 统计控制状态 210

附录A 过程能力指数与不合格率的关系表 214

附录B 过程能力指数Cp值的评价参考表 215

附录C SPC统计过程控制实例 216

C.1 设备验收测试数据统计分析质控方法 216

C.2 结论 223