图书介绍
集成电路测试技术与实例pdf电子书版本下载
- 峥嵘等编 著
- 出版社： 北京希望电脑公司
- ISBN：
- 出版时间：1992
- 标注页数：124页
- 文件大小：7MB
- 文件页数：131页
- 主题词：
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集成电路测试技术与实例PDF格式电子书版下载
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图书目录
第一章 可测试结构化逻辑 1
1．1简介 1
1．2电平敏感设计 1
1．3无冒险触发器 2
1．4设计结构 5
1．5设计规则的优越性 7
1．6价格/性能影响 8
小结 9
第二章 存贮阵列中的应用 10
2．1简介 10
2．2埋层阵列（Burried Arrays）的设计结构 11
2．3测试埋层阵列 11
小结 13
第三章 锁存器设计 14
3．1简介 14
3．2影响触发器设计的因素 14
3．3触发器设计问题 16
3．4“电气”无冒险触发器 16
3．5另外的触发器设计法 16
小结 20
第四章 系统建立和现场服务 21
4．1概述 21
4．2利用LSSD结构 21
小结 22
5．1简介 23
5．2假设和推导 23
第五章 故障率和故障覆盖率 23
小结 26
第六章 VLSI测试的发展趋势 27
6．1简介 27
6．2微处理器Ⅰ 27
6．3微处理器Ⅱ 29
6．4微处理器Ⅲ 29
6．5 VLSI测试问题 30
6．6测试选择项 32
小结 32
第七章 随机模式 33
7．1概述 33
7．2随机模式的应用 34
7．4优化策略 36
7．3在PLA中应用随机模式 36
小结 38
第八章 PLA的测试模式生成器 39
8．1测试目标和故障假定 39
8．2测试生成过程 42
8．3特别的结束程序 45
8．4故障模型化的要点 46
8．5结果 48
小结 48
第九章 特征分析寄存器和屏蔽错误 49
9．1简介 49
9．2推导屏蔽边界 50
9．3定义和符号 52
9．4代数描述推导的屏蔽错误边界 53
9．5屏蔽和马尔可夫链 54
9．6马尔可夫链分析 56
9．7特征分析测试的长度下限 60
小结 63
第十章 随机模式自测 64
10．1一种RP自测结构 64
10．2随机自测模式的覆盖率 67
10．3为RP的可测试性而修改电路 67
10．4修改大型“与”网络 68
10．5 PLA电路的一和RP可测试设计 71
小结 72
11．1简介 74
11．2一个随机模式测试系统 74
第十一章 随机模式测试系统 74
11．3 LSSD随机模式应用方法 76
11．4错误模拟结果 76
11．5一个随机模式测试器 78
11．6测试实验结果 78
小结 79
第十二章 固定错误模拟 80
12．1简介 80
12．2组合错误模拟方法 80
12．3基准设计的模拟结果 82
12．4 PPSFP模拟到LSSD网络的扩展 85
12．5随机模式测试 86
小结 87
13．1简介 88
13．2过渡错误的定义 88
第十三章 延迟错误模拟 88
13．3过渡错误等价类 90
13．4过渡错误模拟方法 90
13．5基准设计的模拟结果 92
13．6扩展到扫描结构化设计 94
小结 96
第十四章 加权随机模式 97
14．1简介 97
14．2动机 97
14．3 WRP模式应用序列 98
14．4初始权产生 101
14．5建立一个完全WRP测试的方法 107
小结 109
15．2基准设计的固定错误覆盖率 110
15．3非定型错误 110
第十五章 WRP错误覆盖率 110
15．1简介 110
15．4过渡和桥接错误模拟 112
小结 115
第十六章 故障诊断 116
16．1简介 116
16．2由错误模拟执行诊断 117
16．3错误表产生 118
16．4与故障有关的错误 119
16．5论断方法 120
16．6随机模式故障诊断 122
16．7论断实验 123
小结 124