图书介绍
数字集成电路设计与技术pdf电子书版本下载
- 林丰成,竺红卫,李立编著 著
- 出版社: 北京:科学出版社
- ISBN:9787030220301
- 出版时间:2008
- 标注页数:330页
- 文件大小:69MB
- 文件页数:340页
- 主题词:数字集成电路-电路设计-研究生-教材
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图书目录
第1章 数字集成电路的历史与现状 1
1.1数字集成电路的历史与现状 1
1.2现代数字设计方法的发展 8
1.3数字集成电路前端设计语言及后端设计软件(EDA) 10
1.4数字IC的几种设计模式 13
1.5数字IC设计面临的挑战 15
1.6习题 17
参考文献 17
第2章 数字IC设计方法学 18
2.1数字IC设计流程 18
2.2层次化设计和模块划分 37
2.3芯片封装和散热 40
2.4 CMOS工艺选择 40
2.5习题 44
参考文献 44
第3章 Verilog/VHDL硬件描述语言 45
3.1 HDL的历史和优势 45
3.2 Verilog数据类型与设计结构 47
3.3基本建模方法 52
3.4路径延时模型 55
3.5逻辑行为建模 57
3.6任务与函数 68
3.7习题 72
参考文献 74
第4章 HDL逻辑设计 75
4.1基本组合电路设计 75
4.2基本时序电路设计 78
4.3设计同步状态机 80
4.4 SRAM的设计 81
4.5复杂数字逻辑设计 85
4.6设计示例:UART 89
4.7可综合的Verilog RTL设计 101
4.8代码书写风格 105
4.9习题 107
参考文献 108
第5章 低功耗数字电路 109
5.1数字电路介绍 109
5.2低功耗设计技术 120
5.3绝热逻辑电路 125
5.4学习示例 133
5.5习题 136
参考文献 138
第6章 逻辑电路的设计验证 139
6.1验证概述 139
6.2验证平台编码风格 150
6.3验证平台模块设计 152
6.4验证平台结构设计 161
6.5断言 172
6.6验证质量评估 175
6.7习题 180
参考文献 183
第7章 逻辑综合 184
7.1逻辑综合概述 184
7.2逻辑综合中的基本概念 187
7.3逻辑综合的步骤 192
7.4综合脚本实例 203
7.5现代先进综合技术 219
7.6习题 224
参考文献 226
第8章 可测试性设计 227
8.1 DFT挑战和设计方法 227
8.2 JTAG边界扫描 227
8.3逻辑内建自测试 234
8.4存储器内建自测试 236
8.5自动测试模式生成 239
8.6存储器电路内建自测试 241
8.7习题 243
参考文献 244
第9章 FPGA设计与芯片验证 245
9.1 FPGA的基础知识 245
9.2 FPGA的基本结构 246
9.3 FPGA的设计流程 256
9.4 FPGA的开发工具 259
9.5 FPGA的同步设计原则 275
9.6 FPGA的设计优化技巧 282
9.7 FPGA设计实践 287
参考文献 290
第10章 基于硬件仿真系统的IC功能验证 291
10.1硬件仿真器的起源 291
10.2硬件仿真器和硬件仿真系统的定义 293
10.3硬件仿真系统的实现原理 294
10.4硬件仿真器系统,验证平台和运行方式 300
10.5硬件仿真系统的编译 307
10.6硬件仿真系统的运行控制和查错手段 312
10.7应用实例分析 315
10.8总结 324
10.9习题 324
参考文献 325
索引 326