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现代材料分析测试方法
  • 郭立伟,戴鸿滨,李爱滨主编 著
  • 出版社: 北京:兵器工业出版社
  • ISBN:9787802480193
  • 出版时间:2008
  • 标注页数:237页
  • 文件大小:60MB
  • 文件页数:246页
  • 主题词:工程材料-分析方法;工程材料-测试技术

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图书目录

第1章 X射线的性质 1

1.1 X射线的本质 1

1.2 X射线的产生 3

1.3 X射线谱 4

1.4 X射线与物质的相互作用 8

1.5 X射线的防护 13

习题 14

第2章 晶体学基础 15

2.1 晶体结构与空间点阵 15

2.2 晶向与晶面 17

2.3 晶面间距和晶面夹角 19

2.4 晶带及晶带定理 21

2.5 倒易点阵 22

习题 25

第3章 X射线的衍射方向 26

3.1 劳厄方程 26

3.2 布拉格方程 29

3.3 爱瓦尔德图解和应用举例 35

习题 37

第4章 X射线衍射强度 38

4.1 一个电子和一个原子对X射线的散射 38

4.2 一个晶胞对X射线的散射 41

4.3 一个小晶体对X射线的衍射及其积分强度 44

4.4 粉末多晶体衍射的积分强度 47

4.5 多晶衍射的积分强度公式 50

习题 51

第5章 多晶体分析方法 52

5.1 粉末照相法 52

5.2 X射线衍射仪 60

5.3 其他多晶照相法 67

5.4 点阵参数的精确测量 69

习题 73

第6章 物相分析 75

6.1 定性分析 75

6.2 定量分析 82

习题 86

第7章 宏观应力测定 87

7.1 宏观残余应力 87

7.2 宏观应力测量的基本原理 89

7.3 宏观应力测试方法 94

7.4 X射线宏观应力测定中应注意的几个问题 101

习题 104

第8章 电子光学基础 105

8.1 电子波与电磁透镜 105

8.2 电磁透镜的像差与分辨本领 109

8.3 电磁透镜的景深和焦长 112

习题 113

第9章 透射电子显微镜 114

9.1 透射电子显微镜的构造 114

9.2 主要部件的结构与工作原理 120

9.3 透射电镜倍率标定 123

习题 124

第10章 复型技术 125

10.1 概述 125

10.2 质厚衬度原理 126

10.3 一级复型和二级复型 127

10.4 萃取复型与粉末样品 131

习题 132

第11章 电子衍射 133

11.1 概述 133

11.2 选区电子衍射 134

11.3 透射电镜中的电子衍射 136

11.4 单晶电子衍射花样 137

11.5 多晶体的电子衍射花样 142

习题 143

第12章 金属薄膜的电子显微分析 144

12.1 薄膜试样的制备 144

12.2 衍衬成像原理 147

12.3 电子波在晶体中的衍射与传播 149

12.4 衍射衬度的运动学理论 152

12.5 晶体缺陷分析 159

12.6 运动学理论的局限性 164

习题 165

第13章 扫描电子显微镜 166

13.1 电子束与固体样品的相互作用 166

13.2 扫描电镜的成像原理及特点 169

13.3 扫描电子显微镜的构造及性能 171

13.4 扫描电子显微镜的电子图像及衬度 173

13.5 扫描电镜在材料研究中的应用实例 175

习题 178

第14章 电子探针 179

14.1 电子探针(EPMA)发展简史 179

14.2 电子探针仪的结构 180

14.3 波谱仪 182

14.4 能谱仪 187

14.5 电子探针分析方法和应用 190

习题 195

第15章 其他近代材料测试方法 196

15.1 离子探针 196

15.2 低能电子衍射(LEED) 201

15.3 俄歇电子能谱仪(AES) 207

15.4 场离子显微镜与原子力显微镜 211

15.5 X射线光电子能谱法 218

部分习题参考答案 221

附录 222

附录一 物理常数 222

附录二 质量吸收系数μm/ρ及密度ρ 222

附录三 原子散射因数f 223

附录四 各种点阵的结构因数|FHKL| 2 224

附录五 粉末法的多重性因数P hkl 224

附录六 角因数1+cos 2 2θ/sin 2θcoxθ 225

附录七 某些物质的特征温度? 227

附录八 1/2(cosθ/sinθ+cox 2θ/θ)的数值 227

附录九 立方系晶面间夹角 229

附录十 常见晶体的标准电子衍射花样 231

参考文献 237

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