图书介绍
集成电路系统设计、验证与测试pdf电子书版本下载
- (美)LouisSchefferLucianoLavagnoGtantMartin等著 著
- 出版社: 北京:科学出版社
- ISBN:9787030214904
- 出版时间:2008
- 标注页数:475页
- 文件大小:151MB
- 文件页数:492页
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集成电路系统设计、验证与测试PDF格式电子书版下载
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图书目录
集成电路电子设计自动化简介 2
系统级设计 6
微体系结构设计 7
逻辑验证 7
测试 8
RTL到GDSII,综合、布局和布线 8
模拟和混合信号设计 9
物理验证 10
工艺计算机辅助设计 11
参考文献 11
绪论 12
验证 14
实现 16
可制造性设计 22
参考文献 23
绪论 26
视频应用的特点 26
其他应用领域 27
平台级的特点 27
基于模型的设计中计算和工具的模型 30
仿真 37
软、硬件的协同综合 38
总结 39
参考文献 40
绪论 43
特定领域语言和方法的调研 44
异构平台及方法学 52
总结 53
参考文献 54
IP复用和基于模块设计的经济性问题 58
标准总线接口 59
基于声明验证的使用 59
IP配置器和生成器的使用 61
设计集成和验证的挑战 62
SPIRIT XML数据手册提案 63
总结 64
参考文献 65
绪论 66
对于系统设计流程中性能评估的介绍 66
MPSoC性能评估 73
总结 74
参考文献 76
绪论 79
动态电源管理 80
电池监控动态电源管理 86
软件级动态电源管理 90
总结 93
参考文献 93
绪论 96
使用ADL进行处理器建模 97
ADL驱动方法 105
总结 111
参考文献 112
摘要 115
绪论 115
同步模型和异步模型 125
同步模型 125
异步模型 128
嵌入式软件模型的研究 143
总结 149
参考文献 149
绪论 153
作为基准点测试平台的ISS 154
理想与实际处理器基准的比较 155
标准基准类型 156
以往的性能级别:MIPS、MOPS和MFLOPS 156
经典的处理器基准(早期) 157
现代处理器性能基准 164
可配置性处理器和处理器内核基准的未来 173
总结 175
参考文献 175
绪论 177
技术发展水平的背景及调研 178
并行HLS 186
SPARK PHLS框架 189
总结 190
参考文献 191
绪论 196
系统建模和设计方法学 197
系统级建模对象的反向标注 200
统计特征的自动提取 203
开放式系统级建模问题 209
参考文献 209
摘要 212
绪论 212
背景 213
结构模型 214
微体系结构功耗建模和估计 215
微体系结构功耗优化 22
总结 236
参考文献 23
绪论 242
平面布局 244
布线规划 249
针对折中的形式系统 256
参考文献 261
绪论 264
历史 265
设计语言 266
验证语言 278
总结 288
参考文献 289
绪论 291
面向事件与面向进程的仿真 292
逻辑仿真方法和算法 293
语言对逻辑仿真的影响 299
逻辑仿真方法 301
HVL对仿真的影响 304
总结 304
参考文献 305
绪论 306
相关工作 306
从系统到RTL设计流程的介绍 308
TLM——设计流程的补充层次 310
TLM建模应用编程接口 314
一个多媒体平台的实例 316
设计流程自动化 319
总结 321
感谢 321
参考文献 321
绪论 323
历史 324
技术发展水平 329
参考文献 333
绪论 334
模拟器架构介绍 336
设计建模 341
调试 345
使用模型 347
电路内模拟的意义 348
关于成功模拟的考虑 348
总结 351
参考文献 351
绪论 352
形式属性验证方法和技术 354
软件形式验证 358
总结 361
参考文献 361
绪论 366
微电子产品可测试性设计的目的 366
芯片级可测试性设计技术的介绍 369
总结 397
参考文献 397
绪论 400
组合ATPG 400
顺序ATPG 405
ATPG和SAT 411
ATPG的应用 417
高级ATPG 422
参考文献 424
绪论 429
模拟电路和模拟规范 429
可测试性分析 431
故障建模和测试规范 432
灾难性故障建模和仿真 433
参数化故障、最差情况容差分析和测试生成 433
可测试性设计简介 434
模拟测试总线标准 434
基于振荡的DFT/BIST 435
PLL、 VCO和抖动测试 437
抖动测试技术简介 438
总结 448
参考文献 448
专业术语中英文对照 451