图书介绍

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公差配合与技术测量
  • 曾秀云编著 著
  • 出版社: 北京:机械工业出版社
  • ISBN:7111217039
  • 出版时间:2007
  • 标注页数:146页
  • 文件大小:7MB
  • 文件页数:151页
  • 主题词:公差-配合-专业学校-教材;技术测量-专业学校-教材

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图书目录

绪论 1

复习思考题 3

第一章 尺寸公差与配合 4

第一节 基本术语及其定义 4

第二节 标准公差系列 12

第三节 基本偏差系列 14

第四节 基准制 22

第五节 公差带与配合的选用 27

本章小结 32

复习思考题 34

第二章 形状和位置公差 36

第一节 概述 36

第二节 形位误差和形位公差 39

第三节 形位公差的标注 49

第四节 公差原则 54

第五节 形位公差的定义和解释 62

本章小结 78

复习思考题 79

第三章 表面粗糙度 83

第一节 表面粗糙度概述 83

第二节 表面粗糙度的评定 85

第三节 表面粗糙度符号、代号及标注 90

第四节 表面粗糙度的应用及检测 97

本章小结 98

复习思考题 99

第四章 技术测量 100

第一节 技术测量的基础知识 100

第二节 常用长度计量器具 104

第三节 常用角度计量器具 113

第四节 光滑工件尺寸的检测 119

本章小结 125

复习思考题 126

附录 129

附录A 轴的极限偏差 129

附录B 孔的极限偏差 138

参考文献 146

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