图书介绍
半导体器件的可靠性 第3集pdf电子书版本下载
- 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 著
- 出版社： 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
- ISBN：
- 出版时间：1977
- 标注页数：173页
- 文件大小：11MB
- 文件页数：176页
- 主题词：
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半导体器件的可靠性 第3集PDF格式电子书版下载
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图书目录
目录 1
空间军用的可靠半导体器件的制造 1
金属化的失效 22
水在氧化膜中的沾污 76
微波固体器件的可靠性物理研究 102
半导体器件鉴定与失效分析中采用红外评估技术的研究 123
塑料封装集成电路可靠性鉴定 129
塑料密封集成电路的可靠性 152
微型电子器件的密封性实验(宇航空间标准AS1142) 166