图书介绍
半导体器件的可靠性 第2集pdf电子书版本下载
- 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 著
- 出版社： 北京：科学技术文献出版社；重庆分社
- ISBN：
- 出版时间：1976
- 标注页数：68页
- 文件大小：5MB
- 文件页数：71页
- 主题词：
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下载说明
半导体器件的可靠性 第2集PDF格式电子书版下载
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图书目录
第二部分 单块微电路的构造 1
第四部分 线性单块微电路 1
第三部分 数字单块微电路 1
目录 1
第一部分 导论 1
单块微电路的应用 1
单块微电路的失效机构 58
第一部分 导论 58
第二部分 单块微电路制造过程中产生的缺陷 58
第三部分 失效机构的讨论 58
第四部分 筛选方法 58
第五部分 纠正措施 58