图书介绍

数字电子技术基础实验pdf电子书版本下载

数字电子技术基础实验
  • 杨刚主编 著
  • 出版社: 北京:电子工业出版社
  • ISBN:7505393839
  • 出版时间:2004
  • 标注页数:162页
  • 文件大小:9MB
  • 文件页数:169页
  • 主题词:数字电路-电子技术-实验-高等学校-教材

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图书目录

实验一 TTL和CMOS门电路参数的测试 1

实验二 基本门电路逻辑功能验证 9

实验三 OC门和三态门的应用 18

实验四 编码器和译码器 24

实验五 数据选择器 30

实验六 组合逻辑电路的应用 37

实验七 触发器 43

实验八 寄存器 52

实验九 数值比较器 57

实验十 CMOS器件功能测试 60

实验十一 计数器 64

实验十二 半加器和全加器的逻辑功能验证 71

实验十三 逻辑电路的竞争冒险现象 77

实验十四 脉冲的产生与整形 82

实验十五 555定时器功能及应用 86

实验十六 存储器 93

实验十七 数模转换器 99

实验十八 模数转换器 106

实验十九 用PLD实现74LS138功能 111

实验二十 用PLD实现74LS90功能 116

附录A Multisim2001使用指南 121

附录B NET-Ⅱ数字实验系统的结构及使用说明 150

附录C 数字集成电路引脚排列图 152

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