图书介绍
模拟电子系统设计指南 实践篇 从半导体、分立元件到TI集成电路的分析与实现pdf电子书版本下载
- 何宾，王中正编著 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：9787121327001
- 出版时间：2017
- 标注页数：295页
- 文件大小：33MB
- 文件页数：309页
- 主题词：电子系统－系统设计－指南
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模拟电子系统设计指南 实践篇 从半导体、分立元件到TI集成电路的分析与实现PDF格式电子书版下载
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图书目录
第1章 构建模拟电子系统的基本知识 1
1.1 电阻 1
1.1.1 轴向引线型电阻 1
1.1.2 电阻网络 4
1.1.3 贴片式电阻元件的封装 5
1.2 电容 6
1.2.1 功能 6
1.2.2 有极性电容 6
1.2.3 无极性电容 8
1.2.4 聚苯乙烯电容 8
1.2.5 真实的电容值 8
1.2.6 电容的寄生效应 9
1.2.7 寄生电容 11
1.2.8 不同类型电容比较 13
1.3 面包板 14
1.3.1 面包板的结构和功能 14
1.3.2 面包板的寄生电容 15
第2章 SPICE仿真工具 17
2.1 Multisim Live特性及应用 17
2.1.1 登录Multisim Live 17
2.1.2 Multisim Live设计流程 18
2.2 TINA仿真工具特性及应用 24
2.2.1 下载和安装TINA仿真工具 24
2.2.2 TI TINA设计流程 25
第3章 测试仪器的原理 34
3.1 数字示波器的原理 34
3.1.1 信号的基本概念 34
3.1.2 示波器分类 36
3.1.3 数字示波器的基本原理 37
3.1.4 性能参数 38
3.1.5 时基显示模式 46
3.2 信号发生器原理 46
3.2.1 信号发生器的功能 46
3.2.2 信号发生器的分类 47
3.2.3 工作原理 47
3.2.4 性能参数 48
3.3 线性直流电源的原理 50
3.3.1 工作原理 50
3.3.2 工作模式 50
3.3.3 性能参数 51
3.3.4 扩展应用 51
3.4 数字万用表的原理 52
3.4.1 工作原理 52
3.4.2 性能参数 53
3.5 频谱分析仪 53
3.5.1 信号的时域和频域表示 54
3.5.2 频谱分析仪的用途 55
3.5.3 频谱分析仪的种类 55
3.5.4 性能参数 57
3.6 直流电子负载 60
3.6.1 电子负载的工作模式 60
3.6.2 性能参数 62
第4章 信号时域和频域表示 64
4.1 实验目的 64
4.2 实验材料及仪器 64
4.3 实验原理 64
第5章 二极管电路设计与验证 73
5.1 二极管I/V曲线测量 73
5.1.1 实验目的 73
5.1.2 实验材料及仪器 73
5.1.3 电路设计原理 73
5.1.4 硬件测试电路 74
5.1.5 测试结果分析 75
5.2 半波整流电路设计和验证 75
5.2.1 实验目的 75
5.2.2 实验材料及仪器 76
5.2.3 电路设计原理 76
5.2.4 硬件测试电路 76
5.2.5 测试结果分析 77
5.3 全波整流电路设计和验证 78
5.3.1 实验目的 78
5.3.2 实验材料及仪器 78
5.3.3 电路设计原理 78
5.3.4 硬件测试电路 79
5.3.5 测试结果分析 80
5.4 桥式整流电路设计和验证 80
5.4.1 实验目的 80
5.4.2 实验材料及仪器 81
5.4.3 电路设计原理 81
5.4.4 硬件测试电路 82
5.4.5 测试结果分析 82
5.5 限幅电路设计和验证 83
5.5.1 实验目的 83
5.5.2 实验材料及仪器 83
5.5.3 电路设计原理 83
5.5.4 硬件测试电路 84
5.5.5 测试结果分析 85
5.6 交流耦合和直流恢复电路设计和验证 87
5.6.1 实验目的 88
5.6.2 实验材料及仪器 88
5.6.3 电路设计原理 88
5.6.4 硬件测试电路 89
5.6.5 测试结果分析 89
5.7 可变衰减器设计和验证 91
5.7.1 实验目的 91
5.7.2 实验材料及仪器 91
5.7.3 电路设计原理 91
5.7.4 硬件测试电路 93
5.7.5 测试结果分析 93
第6章 双极结型晶体管电路设计与验证 96
6.1 BJT用作二极管 96
6.1.1 实验目的 96
6.1.2 实验材料及仪器 96
6.1.3 电路设计原理 96
6.1.4 硬件测试电路 97
6.1.5 测试结果分析 98
6.2 BJT输出特性曲线测量 99
6.2.1 实验目的 99
6.2.2 实验材料及仪器 99
6.2.3 电路设计原理 99
6.2.4 阶梯波信号产生方法 101
6.2.5 硬件测试电路 103
6.2.6 测试结果分析 105
6.3 BJT共射极放大电路设计和验证 107
6.3.1 实验目的 107
6.3.2 实验材料及仪器 107
6.3.3 电路设计原理 107
6.3.4 硬件测试电路 109
6.3.5 测试结果分析 109
6.4 BJT镜像电流源设计和验证 110
6.4.1 实验目的 110
6.4.2 实验材料及仪器 111
6.4.3 电路设计原理 111
6.4.4 硬件测试电路 111
6.4.5 测试结果分析 112
6.5 基极电流补偿镜像电流源设计和验证 113
6.5.1 实验目的 113
6.5.2 实验材料及仪器 113
6.5.3 电路设计原理 113
6.5.4 硬件测试电路 114
6.5.5 测试结果分析 115
6.6 零增益放大器设计和验证 116
6.6.1 实验目的 116
6.6.2 实验材料及仪器 116
6.6.3 电路设计原理 116
6.6.4 硬件测试电路 117
6.6.5 测试结果分析 118
6.7 稳压电流源设计和验证 118
6.7.1 实验目的 119
6.7.2 实验材料及仪器 119
6.7.3 电路设计原理 119
6.7.4 硬件测试电路 120
6.7.5 测试结果分析 120
6.8 并联整流器设计和验证 121
6.8.1 实验目的 121
6.8.2 实验材料及仪器 121
6.8.3 电路设计原理 121
6.8.4 硬件测试电路 123
6.8.5 测试结果分析 124
6.9 射极跟随器设计和验证 126
6.9.1 实验目的 126
6.9.2 实验材料及仪器 126
6.9.3 电路设计原理 126
6.9.4 硬件测试电路 127
6.9.5 测试结果分析 128
6.10 差模输入差分放大器电路设计和验证 129
6.10.1 实验目的 129
6.10.2 实验材料及仪器 129
6.10.3 电路设计原理 129
6.10.4 硬件测试电路 130
6.10.5 测试结果分析 132
6.11 共模输入差分放大器电路设计和验证 133
6.11.1 实验目的 133
6.11.2 实验材料及仪器 133
6.11.3 电路设计原理 134
6.11.4 硬件测试电路 134
6.11.5 测试结果分析 135
第7章 金属氧化物场效应晶体管电路设计与验证 137
7.1 MOS用作二极管电路测试 137
7.1.1 实验目的 137
7.1.2 实验材料及仪器 137
7.1.3 电路设计原理 137
7.1.4 硬件测试电路 139
7.1.5 测试结果分析 139
7.2 MOS输出曲线测量 140
7.2.1 实验目的 141
7.2.2 实验材料及仪器 141
7.2.3 电路设计原理 141
7.2.4 硬件测试电路 142
7.2.5 测试结果分析 143
7.3 MOS转移特性曲线测量 145
7.3.1 实验目的 145
7.3.2 实验材料及仪器 145
7.3.3 电路设计原理 145
7.3.4 硬件测试电路 147
7.3.5 测试结果分析 148
7.4 MOS共源极放大电路设计和验证 152
7.4.1 实验目的 152
7.4.2 实验材料及仪器 153
7.4.3 电路设计原理 153
7.4.4 硬件测试电路 153
7.4.5 测试结果分析 154
7.5 MOS镜像电流源电路设计和验证 156
7.5.1 实验目的 156
7.5.2 实验材料及仪器 156
7.5.3 电路设计原理 156
7.5.4 硬件测试电路 157
7.5.5 测试结果分析 158
7.6 零增益放大器电路设计和验证 158
7.6.1 实验目的 159
7.6.2 实验材料及仪器 159
7.6.3 电路设计原理 159
7.6.4 硬件测试电路 160
7.6.5 测试结果分析 161
7.7 源极跟随器电路设计和验证 161
7.7.1 实验目的 161
7.7.2 实验材料及仪器 162
7.7.3 电路设计原理 162
7.7.4 硬件测试电路 163
7.7.5 测试结果分析 163
7.8 差模输入差分放大器电路设计和验证 164
7.8.1 实验目的 164
7.8.2 实验材料及仪器 164
7.8.3 电路设计原理 165
7.8.4 硬件测试电路 166
7.8.5 测试结果分析 167
7.9 共模输入差分放大器电路设计和验证 168
7.9.1 实验目的 168
7.9.2 实验材料及仪器 168
7.9.3 电路设计原理 168
7.9.4 硬件测试电路 169
7.9.5 测试结果分析 170
第8章 集成运算放大器电路设计与验证 171
8.1 同相放大器电路设计和验证 171
8.1.1 实验目的 171
8.1.2 实验材料及仪器 171
8.1.3 电路设计原理 171
8.1.4 硬件测试电路 172
8.1.5 测试结果分析 173
8.2 反相放大器电路设计和验证 174
8.2.1 实验目的 174
8.2.2 实验材料及仪器 174
8.2.3 电路设计原理 174
8.2.4 硬件测试电路 175
8.2.5 测试结果分析 176
8.3 电压跟随器电路设计和验证 177
8.3.1 实验目的 177
8.3.2 实验材料及仪器 177
8.3.3 电路设计原理 177
8.3.4 硬件测试电路 178
8.3.5 测试结果分析 179
8.4 加法器电路设计和验证 180
8.4.1 实验目的 180
8.4.2 实验材料及仪器 180
8.4.3 电路设计原理 180
8.4.4 硬件测试电路 181
8.4.5 测试结果分析 182
8.5 积分器电路设计和验证 183
8.5.1 实验目的 183
8.5.2 实验材料及仪器 183
8.5.3 电路设计原理 183
8.5.4 硬件测试电路 184
8.5.5 测试结果分析 185
8.6 微分器电路设计和验证 186
8.6.1 实验目的 186
8.6.2 实验材料及仪器 186
8.6.3 电路设计原理 186
8.6.4 硬件测试电路 187
8.6.5 测试结果分析 188
8.7 半波整流器电路设计和验证 189
8.7.1 实验目的 189
8.7.2 实验材料及仪器 189
8.7.3 电路设计原理 189
8.7.4 硬件测试电路 190
8.7.5 测试结果分析 191
8.8 全波整流器电路设计和验证 192
8.8.1 实验目的 192
8.8.2 实验材料及仪器 192
8.8.3 电路设计原理 192
8.8.4 硬件测试电路 192
8.8.5 测试结果分析 194
8.9 单电源同相放大器电路设计和验证 195
8.9.1 实验目的 195
8.9.2 实验材料及仪器 195
8.9.3 电路设计原理 195
8.9.4 硬件测试电路 196
8.9.5 测试结果分析 197
第9章 集成差动放大器电路设计与验证 199
9.1 应变力测量电路设计和验证 199
9.1.1 实验目的 199
9.1.2 实验材料及仪器 199
9.1.3 应变片原理 199
9.1.4 电路设计原理 201
9.1.5 硬件测试电路 202
9.1.6 测试结果分析 203
9.2 热电阻测量电路设计和验证 205
9.2.1 实验目的 205
9.2.2 实验材料及仪器 205
9.2.3 温度传感器原理 206
9.2.4 电路设计原理 206
9.2.5 硬件测试电路 206
9.2.6 测试结果分析 207
第10章 有源滤波器电路设计与验证 210
10.1 一阶有源低通滤波器电路设计和验证 210
10.1.1 实验目的 210
10.1.2 实验材料及仪器 210
10.1.3 电路设计原理 210
10.1.4 硬件测试电路 212
10.1.5 测试结果分析 213
10.2 一阶有源高通滤波器电路设计和验证 218
10.2.1 实验目的 218
10.2.2 实验材料及仪器 218
10.2.3 电路设计原理 219
10.2.4 硬件测试电路 220
10.2.5 测试结果分析 221
10.3 一阶有源带通滤波器电路设计和验证 225
10.3.1 实验目的 225
10.3.2 实验材料及仪器 226
10.3.3 电路设计原理 226
10.3.4 硬件测试电路 228
10.3.5 测试结果分析 229
10.4 一阶有源带阻滤波器电路设计和验证 232
10.4.1 实验目的 232
10.4.2 实验材料及仪器 232
10.4.3 电路设计原理 232
10.4.4 硬件测试电路 234
10.4.5 测试结果分析 235
10.5 二阶有源低通滤波器电路设计和验证 241
10.5.1 实验目的 241
10.5.2 实验材料及仪器 241
10.5.3 电路设计原理 242
10.5.4 硬件测试电路 243
10.5.5 测试结果分析 244
第11章 功率放大器电路设计与验证 247
11.1 B类功率放大器电路设计和验证 247
11.1.1 实验目的 247
11.1.2 实验材料及仪器 247
11.1.3 电路设计原理 247
11.1.4 硬件测试电路 248
11.1.5 测试结果分析 249
11.2 AB类功率输出放大器电路设计和验证（一） 250
11.2.1 实验目的 251
11.2.2 实验材料及仪器 251
11.2.3 电路设计原理 251
11.2.4 硬件测试电路 252
11.2.5 测试结果分析 253
11.3 AB类功率输出放大器电路设计和验证（二） 254
11.3.1 实验目的 255
11.3.2 实验材料及仪器 255
11.3.3 电路设计原理 255
11.3.4 硬件测试电路 256
11.3.5 测试结果分析 257
第12章 振荡器电路设计与验证 259
12.1 移相振荡器电路设计和验证 259
12.1.1 实验目的 259
12.1.2 实验材料及仪器 259
12.1.3 电路设计原理 259
12.1.4 硬件测试电路 261
12.1.5 测试结果分析 262
12.2 文氏桥振荡器电路设计和验证 262
12.2.1 实验目的 263
12.2.2 实验材料及仪器 263
12.2.3 电路设计原理 263
12.2.4 硬件测试电路 265
12.2.5 测试结果分析 266
第13章 电源管理器电路设计与验证 267
13.1 线性电源电路设计和验证 267
13.1.1 实验目的 267
13.1.2 实验材料及仪器 267
13.1.3 电路设计原理 267
13.1.4 硬件测试电路 271
13.1.5 测试结果分析 271
13.2 降压型开关电源设计与验证 275
13.2.1 实验目的 275
13.2.2 实验材料和仪器 276
13.2.3 电路设计原理 276
13.2.4 硬件测试电路 279
13.2.5 测试结果分析 279
13.3 升压型开关电源设计与验证 284
13.3.1 实验目的 285
13.3.2 实验材料和仪器 285
13.3.3 电路设计原理 285
13.3.4 硬件测试电路 286
13.3.5 测试结果分析 287
第14章 模拟电路自动测试系统的构建 291
14.1 实验目的 291
14.2 实验材料及仪器 291
14.3 设计原理 291
14.3.1 测试仪器通过网络与上位机连接 291
14.3.2 自动测试过程的实现 294