图书介绍
半导体硅材料基础pdf电子书版本下载
- 尹建华,李志伟主编 著
- 出版社: 北京:化学工业出版社
- ISBN:9787122055231
- 出版时间:2009
- 标注页数:153页
- 文件大小:62MB
- 文件页数:162页
- 主题词:硅-半导体材料-教材
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图书目录
第1章 概论 1
1.1硅材料工业的发展 1
1.2半导体市场及发展 2
1.3中国扩建新建多晶硅厂应注意的问题 3
本章小结 5
习题 5
第2章 半导体材料基本性质 6
2.1半导体材料的分类及性质 6
2.2硅的物理化学性质 8
2.3硅材料的纯度及多晶硅标准 10
本章小结 11
习题 12
第3章 晶体几何学基础 13
3.1晶体结构 13
3.2晶向指数 16
3.3晶面指数 16
3.4立方晶体 17
3.5金刚石和硅晶体结构 19
3.6倒格子 22
本章小结 22
习题 23
第4章 晶体缺陷 24
4.1点缺陷 24
4.2线缺陷 26
4.3面缺陷 30
4.4体缺陷 31
本章小结 32
习题 32
第5章 能带理论基础 33
5.1能带理论的引入 33
5.2半导体中的载流子 35
5.3杂质能级 36
5.4缺陷能级 38
5.5直接能隙与间接能隙 38
5.6热平衡下的载流子 39
本章小结 45
习题 45
第6章 p-n结 46
6.1 p-n结的形成 46
6.2 p-n结的制备 47
6.3 p-n结的能带结构 48
6.4 p-n结的特性 49
本章小结 50
习题 50
第7章 金属-半导体接触和MIS结构 51
7.1金属-半导体接触 51
7.2欧姆接触 55
7.3金属-绝缘层-半导体结构(MIS) 56
本章小结 57
习题 57
第8章 多晶硅材料的制取 58
8.1冶金级硅材料的制取 58
8.2高纯多晶硅的制取 59
8.3太阳能级多晶硅的制取 61
本章小结 62
习题 62
第9章 单晶硅的制备 63
9.1结晶学基础 63
9.2晶核的形成 65
9.3区熔法 69
9.4直拉法 72
9.5杂质分凝和氧污染 80
9.6直拉硅中的碳 85
9.7直拉硅中的金属杂质 86
9.8磁拉法(MCz) 89
9.9 CCz法(连续加料法) 93
本章小结 96
习题 97
第10章 其他形态的硅材料 98
10.1铸造多晶硅 98
10.2带状硅材料 110
10.3非晶硅薄膜 112
10.4多晶硅薄膜 116
本章小结 118
习题 119
第11章 化合物半导体材料 120
11.1化合物半导体材料特性 120
11.2砷化镓(GaAs) 122
本章小结 131
习题 131
第12章 硅材料的加工 132
12.1切去头尾 132
12.2外径滚磨 133
12.3磨定位面(槽) 134
12.4切片 136
12.5倒角(或称圆边) 139
12.6研磨 140
12.7腐蚀 142
12.8抛光 144
12.9清洗 148
本章小结 150
习题 151
附录 152
附录1 常用物理量 152
附录2 一些杂质元素在硅中的平衡分凝系数、溶解度 152
参考文献 153