图书介绍
材料缺陷的先进计算 电子结构方法pdf电子书版本下载
- （瑞士）阿尔卡斯卡编 著
- 出版社： 北京：国防工业出版社
- ISBN：9787118098808
- 出版时间：2015
- 标注页数：312页
- 文件大小：143MB
- 文件页数：322页
- 主题词：材料－结构缺陷－计算方法
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图书目录
第1章 固体缺陷与杂质电子结构方法的研究进展 1
1.1 引言 1
1.2 形式和计算方法 3
1.3 有关DFT-LDA/GGA带隙的问题和相关的解决方案 5
1.4 总结 11
致谢 11
参考文献 12
第2章 量子蒙特卡罗方法对于固体点缺陷计算的准确性 14
2.1 引言 14
2.2 量子蒙特卡罗法 15
2.3 以往DMC缺陷计算回顾 19
2.4 结果 20
2.5 结论 23
致谢 23
参考文献 23
第3章 多体微扰理论下界面和缺陷的电子性质：近期的发展和应用 26
3.1 引言 26
3.2 多体微扰理论 27
3.3 GW的实际执行以及最近的发展 29
3.4 对界面能带偏移的准粒子修正 38
3.5 缺陷QP修正 42
3.6 结论和前景 45
致谢 45
参考文献 45
第4章 最优极化基下GW计算的加速 49
4.1 引言 49
4.2 GW近似 50
4.3 方法：最佳极化基 52
4.4 实施和验证 55
4.5 实例：a-Si3N4中的点缺陷 58
4.6 结论 62
致谢 62
参考文献 62
第5章 屏蔽交换密度泛函下半导体能带结构和缺陷的计算 64
5.1 引言 64
5.2 屏蔽杂化函数 65
5.3 体能带结构和缺陷 66
5.4 总结 77
致谢 77
参考文献 77
第6章 固体的HSE屏蔽杂化 80
6.1 密度泛函理论基础和简介 80
6.2 带隙 82
6.3 屏蔽杂化 84
6.4 应用 85
6.5 结论 88
致谢 89
参考文献 89
第7章 杂化密度泛函理论下的缺陷能级：理论和应用 92
7.1 引言 92
7.2 计算工具箱 93
7.3 杂化泛函计算的一般结果 97
7.4 杂化泛函的经验调整参数 103
7.5 典型实例研究 107
7.6 结论 109
致谢 110
参考文献 111
第8章 准确的带隙能级以及对其他缺陷性能计算可靠性的影响 114
8.1 引言 114
8.2 KS能级的经验修正方案 116
8.3 带隙能级的位置在各种缺陷构型的相对能中的作用 118
8.4 基于矫正带隙能级位置的总能量修正 119
8.5 准确带隙能级和总能量差的屏蔽杂化泛函计算 121
8.6 总结 124
致谢 125
参考文献 125
第9章 ZnO、SnO2和 TiO2中缺陷的LDA＋U和杂化泛函计算 127
9.1 引言 127
9.2 方法 128
9.3总结 133
致谢 133
参考文献 134
第10章 关于点缺陷计算中带隙修正的LDA＋U方法的客观评价：以ZnO中的氧空位为例 135
10.1 引言 135
10.2 LDA＋U的基本要素 135
10.3 LDA＋U与GW的能带结构比较 138
10.4 改进的LDA＋U模型 139
10.5 有限尺寸的修正 141
10.6 排序问题 142
10.7 新LDA＋U模型结果 143
10.8 与其他结果的比较 144
10.9 实验结果的讨论 146
10.10 结论 147
致谢 147
参考文献 147
第11章 运用广义Koopmans定理的密度泛函计算预测极化子缺陷态 149
11.1 引言 149
11.2 广义Koopmans条件 151
11.3 用参数化原位泛函校正Koopmans条件 153
11.4 在杂化泛函中的Koopmans行为：ZnO中的氮受体 155
11.5 局域与离域之间的平衡 157
11.6 结论 160
致谢 160
参考文献 160
第12章 密度泛函理论下和其他方法SiO2的计算 163
12.1 引言 163
12.2 带隙问题 164
12.3 哪个带隙？ 166
12.4 深缺陷态 168
12.5 结论 169
参考文献 170
第13章 克服宽带半导体中双极掺杂困难 171
13.1 引言 171
13.2 计算方法 172
13.3 缺陷能级的对称和占据 174
13.4 掺杂困难和掺杂限制规则的起因 175
13.5 克服掺杂限制的方法 177
13.6 总结 190
致谢 190
参考文献 191
第14章 超晶胞中带电缺陷间的静电相互作用 193
14.1 引言 193
14.2 真实材料中的静电作用 195
14.3 实例 200
14.4 结论 204
致谢 204
附录A DFT中静电体的能量分解 204
附录B 超晶胞计算中的校准问题 205
参考文献 207
第15章 有限温度下点缺陷的形成能量 208
15.1 引言 208
15.2 方法论 209
15.3 结果：空位性质的电子、准谐和非谐的激发 222
15.4 结论 225
参考文献 225
第16章 具有紧束缚速度的精确Kohn-Sham DFT：材料模拟当前技术和未来方向 227
16.1 引言 227
16.2 AIMPRO Kohn-Sham内核：研究方法及其实现 227
16.3 泛函 231
16.4 局域化约束下的筛选对角化 232
16.5 未来的研究方向与展望 237
16.6 结论 240
致谢 241
参考文献 241
第17章 半导体中浅层缺陷超精细相互作用的从头格林函数计算 243
17.1 引言 243
17.2 从DFT到超精细相互作用 244
17.3 模拟缺陷结构 247
17.4 浅层缺陷：有效质量近似（EMA）和超越 254
17.5 在高应变硅中的磷供体 261
17.6 含磷SiC的n型掺杂 264
17.7 结论 267
致谢 267
参考文献 267
第18章 半导体中点缺陷激发态光谱的含时密度泛函理论研究 271
18.1 引言 271
18.2 方法 274
18.3 结果与讨论 278
18.4 总结 283
致谢 283
参考文献 283
第19章 选用何种电子结构研究缺陷问题：评注 286
19.1 引言：历史观点 286
19.2 研讨会主题 289
19.3 结论 298
致谢 300
参考文献 300