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半导体器件可靠性物理
文件大小:24MB 标注页数:601页 文件页数:615页
MD5:c63e35c52ebc6f092743ae1099cf90e0
ISBN:5031·879
出版社:北京:科学出版社
作者:高光渤,李学信编著
出版时间:1987
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MD5:c63e35c52ebc6f092743ae1099cf90e0
ISBN:5031·879
出版社:北京:科学出版社
作者:高光渤,李学信编著
出版时间:1987