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半导体器件可靠性技术
文件大小：8MB 标注页数：134页 文件页数：139页
MD5：ebc7138ac9134e6ce6c2d8c260f36bd0
ISBN：
出版社：可靠性与环境试验编辑部
作者：王炫华译
出版时间：1979
技术交流资料汇编半导体器件可靠性
文件大小：12MB 标注页数：0页 文件页数：195页
MD5：8e3704b8b1a56cebf47e6ff5bc1e8604
ISBN：
出版社：
作者：
出版时间：未知
半导体器件可靠性技术
文件大小：48MB 标注页数：160页 文件页数：162页
MD5：4e2d129d446ad3e785601f0900267e7f
ISBN：
出版社：上海市仪表电讯工业局科技情报研究所
作者：上海市仪表电讯工业局科技情报研究所
出版时间：1981
半导体器件可靠性技术
文件大小：6MB 标注页数：352页 文件页数：368页
MD5：b72dfe239b806e8aee471475728a3000
ISBN：7560601669
出版社：西安：西安电子科技大学出版社
作者：（日）安食恒雄主编；日本松下电子工业株式会社编；周南生等译
出版时间：1991
现代半导体器件的可靠性理论与技术
文件大小：24MB 标注页数：337页 文件页数：343页
MD5：25e30e22fdc73db412025dd0648b9856
ISBN：7505313703
出版社：北京：电子工业出版社
作者：黄桂生，王化周编译
出版时间：1991
半导体器件可靠性专集
文件大小：44MB 标注页数：165页 文件页数：169页
MD5：cab6da22993d6418985a830b70dd3178
ISBN：
出版社：科学技术文献出版社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分析编
出版时间：1974
半导体器件的可靠性 专集
文件大小：13MB 标注页数：165页 文件页数：169页
MD5：8a6e1d19240fd8c5f7255e47eacc1cfc
ISBN：
出版社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版时间：1974
半导体器件的可靠性 第3集
文件大小：11MB 标注页数：173页 文件页数：176页
MD5：d8be4dab1deb0472341884a3f62458ea
ISBN：
出版社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版时间：1977
半导体器件的可靠性 第2集
文件大小：5MB 标注页数：68页 文件页数：71页
MD5：6c0cbffba50e2640e5388a5ff449fae8
ISBN：
出版社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版时间：1976
半导体器件的可靠性 第4集
文件大小：33MB 标注页数：99页 文件页数：102页
MD5：0fc58ef71687a5a74e79e8ce917dd905
ISBN：15176·132
出版社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版时间：1977