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半导体器件及电路的可靠性与退化
文件大小:33MB 标注页数:463页 文件页数:469页
MD5:85f76216b7258af3d18c3bebaf8c5cb6
ISBN:7030011643
出版社:北京:科学出版社
作者:(英)M. J. 豪斯,(英)D. V. 摩根主编;李锦林等译
出版时间:1989
微波器件 器件与电路之互作用
文件大小:13MB 标注页数:289页 文件页数:293页
MD5:bcfc14905bc6adcf19f651c09afa12b7
ISBN:15196·084
出版社:南京:江苏科学技术出版社
作者:(英)豪斯(M.J.Howes),(英)摩根(D.V.Morgan)编;潘瑞成,吴荣元译
出版时间:1982