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现代测试技术

现代测试技术

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MD5：a3431194501f43c739d17f1f2262d595

ISBN：7810658670

出版社：成都：电子科技大学出版社

作者：陈光〓等编著

出版时间：2002

现代测试技术

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文件大小：14MB　标注页数：284页　文件页数：295页

MD5：4ae379dc80e25c6679245dae78d60391

ISBN：15192·448

出版社：上海：上海科学技术文献出版社

作者：徐文泉编

出版时间：1986

现代测试技术

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文件大小：59MB　标注页数：348页　文件页数：358页

MD5：3acfffd9c9b104906ab53896de1cf5b1

ISBN：9787301193167

出版社：北京市：北京大学出版社

作者：陈科山，王燕著

出版时间：2011

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MD5：ffbfc90d147881cd5b85f3c6161246dc

ISBN：7313028210

出版社：上海：上海交通大学出版社

作者：洪水棕主编

出版时间：2002

现代纺织测试技术

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文件大小：72MB　标注页数：277页　文件页数：288页

MD5：a25a423150e220f02bbee224cdbd6e32

ISBN：9787518033539

出版社：北京：中国纺织出版社

作者：张毅

出版时间：2017

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MD5：fce7aa499b6555075a0df40b79351bb7

ISBN：7111192648

出版社：北京：机械工业出版社

作者：汉泽西，肖志红，董浩编著

出版时间：2006

现代集成电路测试技术

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MD5：f9c428e5012176fa75f8ec359db5f040

ISBN：

出版社：化学工业出版社

作者：《现代集成电路测试技术》编写组

出版时间：2006

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MD5：3807657c53ef3c6e5c7ca06c855f50cc

ISBN：9787565504938

出版社：北京：中国农业大学出版社

作者：李成华等主编

出版时间：2012

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文件大小：24MB　标注页数：190页　文件页数：202页

MD5：63c697592dd93b4f7975ecad1059dc9d

ISBN：9787502796914

出版社：北京：海洋出版社

作者：李德堂，吕沁，唐文涛，朱铭锴著

出版时间：2017

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文件大小：15MB　标注页数：270页　文件页数：278页

MD5：57ebb1edbe4f22c2fa5949e3f3b5a91b

ISBN：9787560618098

出版社：西安：西安电子科技大学出版社

作者：何广军，高育鹏

出版时间：2007

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