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上篇 集成电路测试原理 3

第1章 概述 3

1.1 测试的意义 3

1.2 测试的分类 6

1.3 测试成本与产品质量 8

参考文献 11

第2章 逻辑模拟与故障模拟 12

2.1 电路模型及简单的结构分析 12

2.2 信号状态模型 14

2.3 定时模型 15

2.4 故障模型及故障精简 15

2.5 故障效应的传播 17

2.6 逻辑模拟算法 19

2.7 故障模拟算法 23

2.8 时序电路的逻辑模拟和故障模拟 35

参考文献 38

第3章 可测性度量 39

3.1 可测性度量的基本概念 39

3.2 可测性的度量 40

参考文献 50

第4章 测试生成 51

4.1 测试生成方法分类 51

4.2 测试生成算法中的一些基本概念和技术 52

4.3 单路径敏化法 55

4.4 D-算法 56

4.5 9值算法 61

4.6 PODEM算法 64

4.7 FAN算法 67

4.8 布尔差分法 70

4.9 布尔满足法 73

4.10 面向电路的测试生成方法 79

4.11 组合ATPG算法研究进展 81

4.12 时序电路测试生成 83

4.13 高层设计的测试生成 89

4.14 测试生成系统 91

参考文献 92

第5章 可测性设计方法和技术 94

5.1 可测性设计的基本概念 94

5.2 专门的可测性设计方法 99

5.3 基于扫描的可测性设计技术 104

5.4 全速测试和全速扫描测试技术 112

5.5 特征分析测试方法简介及内建自测试 114

5.6 边界扫描设计技术 121

5.7 可测性设计规则综述 131

参考文献 132

第6章 设计验证技术 133

6.1 设计验证技术基本概念 133

6.2 设计的模拟验证 135

6.3 设计的形式验证和断言验证 144

6.4 设计验证辅助功能测试向量的制成 150

6.5 现代数字集成电路芯片设计验证的语言 155

参考文献 156

第7章 测试数据压缩技术 157

7.1 测试数据压缩的缘由、特点和方法概述 157

7.2 Huffman编码 160

7.3 游程编码的方法 161

7.4 Golomb码的数学基础和数据压缩 162

7.5 快速编码的优势和特点 164

7.6 二维压缩编码方法的基本实践 168

7.7 数据压缩的硬件实施方法和措施 170

参考文献 172

第8章 测试开发系统 174

8.1 测试语言 174

8.2 测试程序 179

8.3 测试开发环境 182

8.4 测试转换系统 183

8.5 测试设备脱机开发环境 191

参考文献 197

第9章 混合信号集成电路测试 198

9.1 概况 198

9.2 采样理论 199

9.3 基于DSP的测试 204

9.4 基于模型的测试 206

9.5 DAC测试 210

9.6 ADC测试 214

9.7 混合信号DFT和BIST 220

参考文献 223

第10章 IDDQ测试 225

10.1 IDDQ基本原理 225

10.2 IDDQ测试生成 226

10.3 IDDQ可测性设计 231

10.4 IDDQ监控器设计 236

10.5 △IDDQ测试 248

10.6 深亚微米IDDQ测试 249

10.7 未来方向 251

参考文献 252

第11章 SOC测试 253

11.1 概况 253

11.2 SOC测试困难 253

11.3 测试访问机制 254

11.4 测试外壳 255

11.5 内核测试 259

11.6 SOC系统测试 262

11.7 测试标准 266

11.8 内核测试语言 267

11.9 未来的挑战 269

参考文献 270

第12章 集成电路测试标准 272

12.1 集成电路相关标准机构 272

12.2 国际集成电路测试标准介绍 275

下篇 集成电路测试设备 282

第13章 集成电路测试系统概述 282

13.1 集成电路测试系统发展概述 282

13.2 集成电路测试系统分类 284

13.3 集成电路测试系统专用集成电路 284

13.4 分布式集成电路测试系统 290

参考文献 294

第14章 集成电路测试验证系统 295

14.1 集成电路测试验证要求和测试验证系统发展 295

14.2 第1代测试验证手段和系统 296

14.3 第2代测试验证系统的构成 298

14.4 第3代测试验证系统的特点 301

14.5 现代测试验证系统的要求和特点 302

参考文献 307

第15章 数字集成电路测试系统 308

15.1 数字集成电路测试系统原理 308

15.2 数字SSI/MSI测试系统 317

15.3 数字LSI/VLSI测试系统 326

参考文献 351

第16章 RAM测试技术和测试系统 352

16.1 RAM的基本组成及结构 352

16.2 RAM测试 354

16.3 RAM测试系统 363

参考文献 371

第17章 模拟集成电路测试系统 372

17.1 模拟电路的测试需求 372

17.2 模拟电路测试系统的系统结构 380

17.3 模拟测试系统仪器构成原理 388

17.4 现代模拟集成电路测试系统 418

参考文献 422

第18章 数模混合信号集成电路测试系统 423

18.1 混合信号电路对测试的需求 423

18.2 混合信号电路测试系统的体系结构 436

18.3 混合信号电路测试系统的同步 439

18.4 混合信号测试的特殊仪器 444

18.5 混合信号电路测试系统 452

第19章 基于标准总线的集成电路测试系统 461

19.1 基于标准总线的集成电路测试系统发展 461

19.2 虚拟仪器 464

19.3 自动测试系统软件体系结构 466

19.4 基于标准总线的通用集成电路测试系统举例 467

参考文献 470

第20章 基于DFT测试仪 471

20.1 传统ATE 471

20.2 DFT测试仪 472

20.3 测试方法 473

20.4 DFT测试应用 474

20.5 DFT测试仪与传统ATE区别 475

20.6 一种边界扫描DFT测试系统——JTAG 478

参考文献 483

第21章 SOC测试系统 484

21.1 SOC测试特性 484

21.2 SOC测试系统特性 485

21.3 SOC测试系统 489

参考文献 496

第22章 集成电路测试系统的计量 497

22.1 量值溯源基础 497

22.2 集成电路测试系统校准与参数溯源的基础原理 502

22.3 集成电路测试系统校准与参数溯源方法介绍 503

22.4 集成电路测试系统国家校准规程 514

参考文献 516

第23章 集成电路测试辅助设备 517

23.1 自动分选机 517

23.2 探针测试台 520

参考文献 525

索引 527