超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统

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MD5：078e9ad567af620c4b07cd370bb46e62

ISBN：7121014904

出版社：北京：电子工业出版社

作者：（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译

出版时间：2005