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超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统
文件大小：68MB 标注页数：511页 文件页数：529页
MD5：078e9ad567af620c4b07cd370bb46e62
ISBN：7121014904
出版社：北京：电子工业出版社
作者：（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译
出版时间：2005