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超大规模集成电路测试
文件大小：73MB 标注页数：319页 文件页数：332页
MD5：fed7d6fb3220263c7e64ad3efe0c6c30
ISBN：7121063077
出版社：北京：电子工业出版社
作者：雷绍充，邵志标，梁峰编著
出版时间：2008
超大规模集成电路设计 2 逻辑与测试
文件大小：8MB 标注页数：285页 文件页数：294页
MD5：af3596266a52a1669ce43fc383b78000
ISBN：7030024575
出版社：北京：科学出版社
作者：（日）树下行三等著；裴武焕译
出版时间：1991
超大规模集成电路衬底材料性能及加工测试技术工程
文件大小：23MB 标注页数：311页 文件页数：325页
MD5：feb939b5a0fb26f9b4a54c8db652bbd2
ISBN：7502430504
出版社：北京：冶金工业出版社
作者：刘玉岭等编著
出版时间：2002
超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统
文件大小：68MB 标注页数：511页 文件页数：529页
MD5：078e9ad567af620c4b07cd370bb46e62
ISBN：7121014904
出版社：北京：电子工业出版社
作者：（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译
出版时间：2005