搜索:cmos技术中的闩锁效应

CMOS技术中的闩锁效应 问题及其解决方法

点击下载

文件大小:7MB 标注页数:210页 文件页数:221页

MD5:cb6ecb7f2c1fef67c54447d0331f8372

ISBN:7030048571

出版社:北京:科学出版社

作者:(美)R.R.特劳特曼(R.R.Troutman)著;嵇光大,卢文豪译

出版时间:1996