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软件测试

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文件大小：83MB　标注页数：271页　文件页数：288页

MD5：d087f49d01da7e38e16152d09178c2de

ISBN：7111099257

出版社：北京：机械工业出版社

作者：（美）Ron Patton著；周予滨，姚静等译

出版时间：2002

软件测试英文版

软件测试英文版

文件大小：54MB　标注页数：389页　文件页数：409页

MD5：af7c30c504f970a545b009334754bb73

ISBN：7111177703

出版社：北京：机械工业出版社

作者：（美）Ron Patton著

出版时间：2006

ATL开发指南

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文件大小：23MB　标注页数：511页　文件页数：517页

MD5：17cbf452fb21fea6e567550d4387ecda

ISBN：7505362984

出版社：北京：电子工业出版社

作者：（美）Tom Armstrong，（美）Ron Patton著；董梁等译

出版时间：2000

软件测试原书第2版

软件测试原书第2版

文件大小：40MB　标注页数：254页　文件页数：272页

MD5：468837e98feb75a080845c173b9ec9cd

ISBN：7111185269

出版社：北京：机械工业出版社

作者：（美）Ron Patton著；张小松，王钰，曹跃等译

出版时间：2006

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