可靠性技术丛书 半导体集成电路的可靠性及评价方法

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MD5：9381a5a49233f2b84177ce29a064f534

ISBN：9787121271601

出版社：北京：电子工业出版社

作者：工业和信息化部电子第五研究所组编；章晓文，恩云飞编著

出版时间：2015