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数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计
文件大小：32MB 标注页数：284页 文件页数：300页
MD5：50adc24c32c72c30f5538f378c700249
ISBN：7111187067
出版社：北京：机械工业出版社
作者：（美）克拉茨（Crouch，A.L.）著；何虎等译
出版时间：2006
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
文件大小：29MB 标注页数：348页 文件页数：377页
MD5：66a97869cf3928095e7ad2d1ab1786fd
ISBN：7508319044
出版社：北京：中国电力出版社
作者：（美）阿尔佛雷德著
出版时间：2004