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数字集成电路入式内核系统可测试性设计

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文件大小:29MB 标注页数:348页 文件页数:377页

MD5:66a97869cf3928095e7ad2d1ab1786fd

ISBN:7508319044

出版社:北京:中国电力出版社

作者:(美)阿尔佛雷德著

出版时间:2004