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VLSI测试法学可测设计

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文件大小:17MB 标注页数:286页 文件页数:299页

MD5:f74583b32d94b6909b78df1613769200

ISBN:7121003791

出版社:北京:电子工业出版社

作者:雷绍充,邵志标,梁峰著

出版时间:2005