搜索:vlsi测试方法学和可测性设计
VLSI测试方法学和可测性设计
文件大小:17MB 标注页数:286页 文件页数:299页
MD5:f74583b32d94b6909b78df1613769200
ISBN:7121003791
出版社:北京:电子工业出版社
作者:雷绍充,邵志标,梁峰著
出版时间:2005
文件大小:17MB 标注页数:286页 文件页数:299页
MD5:f74583b32d94b6909b78df1613769200
ISBN:7121003791
出版社:北京:电子工业出版社
作者:雷绍充,邵志标,梁峰著
出版时间:2005