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电子封装技术与可靠性
文件大小:79MB 标注页数:304页 文件页数:320页
MD5:83e2fa00d31b8e472f608d92b5cdb999
ISBN:9787122142191
出版社:北京:化学工业出版社
作者:(美)H.阿德比利,(美)迈克尔·派克著;中国电子学会电子制造与封装技术分会,《电子封装技术丛书》编辑委员会组织译审;孔学东,恩云飞,尧彬等翻译
出版时间:2012
电子封装可靠性与失效分析
文件大小:28MB 标注页数:175页 文件页数:185页
MD5:b6f024baad1a1317ce0c08d2907e50e9
ISBN:9787560649580
出版社:西安:西安电子科学技术大学出版社
作者:汤巍,景博,盛增津编著
出版时间:2018