搜索：集成电路测试技术
现代集成电路测试技术
文件大小：12MB 标注页数：540页 文件页数：551页
MD5：f9c428e5012176fa75f8ec359db5f040
ISBN：
出版社：化学工业出版社
作者：《现代集成电路测试技术》编写组
出版时间：2006
现代集成电路测试技术
文件大小：44MB 标注页数：540页 文件页数：551页
MD5：0bcbf07bc1fec89002ac722e8fda1de3
ISBN：7502581316
出版社：北京：化学工业出版社
作者：时万春等编著
出版时间：2006
集成电路测试技术与实例
文件大小：7MB 标注页数：124页 文件页数：131页
MD5：30cfbfe10852fb8ed06d58c54b32d680
ISBN：
出版社：北京希望电脑公司
作者：峥嵘等编
出版时间：1992
集成电路测试技术基础
文件大小：31MB 标注页数：171页 文件页数：181页
MD5：e649b08294fb0af5d681d1f76f1aff98
ISBN：7122029484
出版社：北京：化学工业出版社
作者：姜岩峰，张晓波，杨兵编著
出版时间：2008
最新集成电路测试动技术
文件大小：70MB 标注页数：290页 文件页数：298页
MD5：e5d7e42548ed98405a036841b8b3d34e
ISBN：9787118060713
出版社：北京：国防工业出版社
作者：高成，张栋，王香芬编著
出版时间：2009
集成电路测试技术员 中级
文件大小：19MB 标注页数：148页 文件页数：158页
MD5：6ece94ed3def33854be01acce7d4934c
ISBN：9787504561732
出版社：北京：中国劳动社会保障出版社
作者：贺德洪主编
出版时间：2007
中国集成电路检测和测试产业技术创新路线图
文件大小：44MB 标注页数：161页 文件页数：172页
MD5：e44c24c0740e8cf47bc2398ed9ad1020
ISBN：9787121360589
出版社：北京：电子工业出版社
作者：集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟编
出版时间：2019
超大规模集成电路衬底材料性能及加工测试技术工程
文件大小：23MB 标注页数：311页 文件页数：325页
MD5：feb939b5a0fb26f9b4a54c8db652bbd2
ISBN：7502430504
出版社：北京：冶金工业出版社
作者：刘玉岭等编著
出版时间：2002
国外集成电路测试自动化
文件大小：1MB 标注页数：36页 文件页数：37页
MD5：1d02778b506867e6743744dbdafd6abf
ISBN：151634·117
出版社：上海科学技术情报研究所
作者：上海科学技术情报研究所编辑
出版时间：1973
线性集成电路测试方法 特辑
文件大小：4MB 标注页数：85页 文件页数：88页
MD5：a898365eb7f9b6c460dacf2680495a12
ISBN：
出版社：西安市科学技术交流馆
作者：
出版时间：未知