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电子计量测试应用手册 集成电路计量测试分册
文件大小：15MB 标注页数：510页 文件页数：516页
MD5：78296d6e1f212c2c9e0deab9eb1d98f0
ISBN：
出版社：电子工业部科技情报研究所出版社
作者：《电子计量测试应用手册》编委会编
出版时间：1986
现代集成电路测试技术
文件大小：12MB 标注页数：540页 文件页数：551页
MD5：f9c428e5012176fa75f8ec359db5f040
ISBN：
出版社：化学工业出版社
作者：《现代集成电路测试技术》编写组
出版时间：2006
数字集成电路测试优化
文件大小：34MB 标注页数：344页 文件页数：357页
MD5：4ba604e9eceee35cfc40fd7d049cf8b2
ISBN：9787030278944
出版社：北京：科学出版社
作者：李晓维，韩银和，胡瑜等著
出版时间：2010
现代集成电路测试技术
文件大小：44MB 标注页数：540页 文件页数：551页
MD5：0bcbf07bc1fec89002ac722e8fda1de3
ISBN：7502581316
出版社：北京：化学工业出版社
作者：时万春等编著
出版时间：2006
集成电路测试仪器选购手册
文件大小：13MB 标注页数：252页 文件页数：261页
MD5：1ebe20fd42553f4288da27955dee19cd
ISBN：
出版社：
作者：时万春
出版时间：未知
集成电路测试技术与实例
文件大小：7MB 标注页数：124页 文件页数：131页
MD5：30cfbfe10852fb8ed06d58c54b32d680
ISBN：
出版社：北京希望电脑公司
作者：峥嵘等编
出版时间：1992
线性集成电路测试方法 特辑
文件大小：4MB 标注页数：85页 文件页数：88页
MD5：a898365eb7f9b6c460dacf2680495a12
ISBN：
出版社：西安市科学技术交流馆
作者：
出版时间：未知
集成电路测试技术基础
文件大小：31MB 标注页数：171页 文件页数：181页
MD5：e649b08294fb0af5d681d1f76f1aff98
ISBN：7122029484
出版社：北京：化学工业出版社
作者：姜岩峰，张晓波，杨兵编著
出版时间：2008
线性集成电路测试方法 特辑
文件大小：4MB 标注页数：85页 文件页数：89页
MD5：4d78611c86f4aa94d59f8ba5c676adac
ISBN：
出版社：西安市科学技术交流馆
作者：郑悰编译
出版时间：1975