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测试电路

测试电路

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MD5：2f428038ead4060e1c307b1d8e3fd571

ISBN：7313014694

出版社：上海：上海交通大学出版社

作者：曹继松，韩德苏编

出版时间：1995

电路测试技术

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文件大小：52MB　标注页数：159页　文件页数：170页

MD5：e2a63303786513dc8357d0c58307e35d

ISBN：781053775X

出版社：长沙：湖南大学出版社

作者：张颖主编

出版时间：2004

逻辑电路测试

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文件大小：10MB　标注页数：324页　文件页数：332页

MD5：716e9491018a753259f8ab6d1fbd549f

ISBN：15043·4211

出版社：北京：中国铁道出版社

作者：闵应骅编著

出版时间：1986

电路测试基础

电路测试基础

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文件大小：10MB　标注页数：236页　文件页数：244页

MD5：9619410059ae4fc86584254a0fab5aa8

ISBN：7113029213

出版社：北京：中国铁道出版社

作者：杨烨成，胡咏芬编

出版时间：1998

电路测试技术

电路测试技术

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文件大小：11MB　标注页数：132页　文件页数：141页

MD5：dbb517c7b63e54acd6fe96b588091631

ISBN：9787811077254

出版社：徐州：中国矿业大学出版社

作者：阎有运主编

出版时间：2007

电源电路和显示电路分析 学习伴随测试

电源电路和显示电路分析 学习伴随测试

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文件大小：46MB　标注页数：213页　文件页数：225页

MD5：3fe84864cdc58d945de44d666c5ec739

ISBN：9787122215369

出版社：北京：化学工业出版社

作者：胡斌，邢鸣，胡松编

出版时间：2014

现代集成电路测试技术

现代集成电路测试技术

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文件大小：12MB　标注页数：540页　文件页数：551页

MD5：f9c428e5012176fa75f8ec359db5f040

ISBN：

出版社：化学工业出版社

作者：《现代集成电路测试技术》编写组

出版时间：2006

电路测试技术与仪器

电路测试技术与仪器

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文件大小：16MB　标注页数：282页　文件页数：290页

MD5：d55580441d146255c9bf79604049d563

ISBN：7302004358

出版社：北京：清华大学出版社

作者：朱锡仁编著

出版时间：1989

电路测试技术基础

电路测试技术基础

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文件大小：18MB　标注页数：261页　文件页数：268页

MD5：a5ff35a1b453501867b7f37249f150f5

ISBN：7810579703

出版社：成都：西南交通大学出版社

作者：赵莉，刘子英主编

出版时间：2004

集成电路和自动保护电路分析 学习伴随测试

集成电路和自动保护电路分析 学习伴随测试

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文件大小：42MB　标注页数：190页　文件页数：202页

MD5：a4afd8f0da0543f72915c4f550b64435

ISBN：9787122231062

出版社：北京：化学工业出版社

作者：胡斌，胡松编

出版时间：2015

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